[发明专利]用于测试电子器件的方法、测试系统和通过过程被测试的电路有效
| 申请号： | 201210160839.2 | 申请日： | 2012-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN102818983B | 公开（公告）日： | 2017-05-03 |
| 发明（设计）人： | I·布尔斯坦 | 申请（专利权）人： | 马维尔国际贸易有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 酆迅,罗世娜 |
| 地址： | 巴巴多斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于测试集成电路的方法和装置。本公开的各方面提供一种测试方法。所述方法包括从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源。所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。此外，所述方法包括接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试电子器件的方法，包括：从电压调节器向待测试器件DUT供应电源，所述DUT包括自适应电压缩放模块，所述自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号；接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源；并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。
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