[发明专利]用于测试电子器件的方法、测试系统和通过过程被测试的电路

权利要求书

1.一种用于测试电子器件的方法，包括：

从电压调节器向待测试器件DUT供应电源，所述DUT包括自适应电压缩放模块，所述自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号；

接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源；并且

在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

2.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：

接收至少基于所述DUT内的电压而生成的所述反馈信号。

3.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT输出到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：

接收至少基于所述DUT的性能参数而生成的所述反馈信号。

4.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT输出到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：

接收至少基于所述DUT内的电压与被存储在所述DUT中的目标电压的比较而生成的所述反馈信号。

5.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：

由所述电压调节器基于所述反馈信号与对于所述反馈信号的目标的比较来调节所述电源。

6.如权利要求1的方法，进一步包括：

基于被供应到所述DUT的所述电源的电压电平来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

7.如权利要求1的方法，其中在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求进一步包括：

向所述DUT发送测试信号；

从所述DUT接收响应信号；并且

基于所述响应信号来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

8.一种测试系统，包括：

测试器的电压调节器，被配置以基于输入信号来输出电源；

被配置用于测试待测试器件DUT的适配器板，所述适配器板包括：

第一耦合，被配置以从所述测试器的所述电压调节器供应所述电源用以测试所述DUT的性能参数，所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块，

第二耦合，被配置以从所述DUT提供所述反馈信号作为对所述测试器的所述电压调节器的所述输入信号以基于所述反馈信号来调节被供应到所述DUT的所述电源；以及

被配置以在所述测试器的所述电压调节器基于所述反馈信号来调节所述电源的同时执行所述DUT的功能测试的测试器。

9.如权利要求8的测试系统，其中至少基于所述DUT内的电压来生成所述反馈信号。

10.如权利要求8的测试系统，其中至少基于所述DUT的性能参数来生成所述反馈信号。

11.如权利要求8的测试系统，其中至少基于所述DUT内的电压与被存储在所述DUT中的目标电压的比较来生成所述反馈信号。

12.如权利要求8的测试系统，其中所述电压调节器被配置以基于所述反馈信号与对于所述反馈信号的目标的比较来调节所述电源。

13.如权利要求8的测试系统，其中所述测试器被配置以基于被供应到所述DUT的所述电源的电压电平来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

14.如权利要求8的测试系统，其中所述测试器被配置以向所述DUT发送测试信号、从所述DUT接收响应信号并且基于所述响应信号确定所述DUT是否满足指定的性能要求。