[发明专利]用于测试电子器件的方法、测试系统和通过过程被测试的电路

说明书

相关申请的引用

本公开要求享有2011年5月17日递交的的美国临时申请No.61/487,157“DUT Voltage Control For Automated Test Equipment”的权益，这里以引用的方式将其全部内容合并。

背景技术

在此提供的背景技术描述是为了总体上呈现本公开的上下文的目的。当前署名的发明人的工作(就在该背景技术部分中描述的工作的程度而言)以及可能也不限定作为提交申请时的现有技术的说明书的许多方面既不会明示也不会暗含地被承认为相对于本公开的现有技术。

通常，集成电路(IC)测试使用自动测试设备(ATE)以及专用于集成电路产品的适配器板以测试该产品的每一个待测试器件(DUT)。在一个示例中，在制造时，将产品的每一个封装的IC器件插入适配器板上的插槽中，并且将适配器板适当地连接到ATE。然后，ATE经由适配器板测试封装的IC器件并且确定该封装的IC器件是否满足一个或者多个指定的性能要求。例如，ATE经由适配器板向封装的IC器件发送测试信号并且从该封装的IC器件接收响应信号。

发明内容

本公开的各方面提供一种测试方法。所述方法包括从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源。所述DUT包括自适应电压缩放模块，该自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号。此外，所述方法包括接收从所述DUT到所述电压调节器的反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

在一个实施例中，至少基于所述DUT内的电压来生成所述反馈信号。在另一实施例中，至少基于所述DUT的性能参数来生成所述反馈信号。在再一实施例中，至少基于所述DUT内的电压与被存储在所述DUT中的目标电压的比较来生成所述反馈信号。

根据本公开的一个方面，所述方法包括由所述电压调节器基于所述反馈信号与对于所述反馈信号的目标的比较来调节所述电源。

此外，在一个示例中，所述方法包括向所述DUT发送测试信号，从所述DUT接收响应信号，并且基于所述响应信号来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

本公开的方面提供一种测试系统。所述测试系统包括电压调节器、适配器板和测试器。所述电压调节器被配置以基于输入信号来输出电源。所述适配器板被配置用于测试DUT。所述适配器板包括被配置以从所述电压调节器向所述DUT供应所述电源的第一耦合。所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。所述适配器板包括被配置以从所述DUT提供所述反馈信号作为对所述电压调节器的所述输入信号以基于所述反馈信号来调节被供应到所述DUT的所述电源的第二耦合。所述测试器被配置以在所述电压调节器基于所述反馈信号来调节所述电源的同时执行所述DUT的功能测试。

本公开的方面提供一种通过一种过程被测试的电路，所述过程包括从电压调节器向所述电路供应电源。所述电路包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。所述过程进一步包括从所述电路向所述电压调节器提供所述反馈信号以基于所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述电路输出的所述反馈信号来调节所述电源的同时确定所述电路是否满足指定的性能要求。

附图说明

将参照以下附图详细描述作为示例提出的本公开的各种实施例，其中类似的附图标记指代类似的元件，并且其中：

图1示出了根据本公开实施例的测试系统示例100的框图；

图2示出了根据本公开实施例的电子系统示例260的框图；以及

图3示出了根据本公开实施例概述用于测试系统100以测试待测试器件130的过程示例300的流程图。

具体实施方式

图1示出了根据本公开实施例的测试待测试器件(DUT)130的测试系统示例100的框图。测试系统100包括适配器板110以及具有电压调节器125的测试器120。这些元件如图1所示耦合到一起。