[发明专利]电容式触摸屏的测试方法及其测试设备

摘要

本发明提供了一种电容式触摸屏的测试方法，包括新式的IC功能测试、功耗测试、短路测试和开路测试方法。本发明还提供了一种电容式触摸屏的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，所述的屏幕测试板包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。本发明集合短路测试、开路测试、IC功能测试和功耗测试于一体，可对电容触摸屏多项性能及线路进行检测，利用金属圆棒同时对一行传感器进行一次性检测，大大提高检测效率。

主权项

一种电容式触摸屏的测试方法，包括IC功能测试，所述的IC功能测试包括如下步骤：写入固件至驱动IC中，从驱动IC的指定堆栈中读取固件的版本号并且核对，其特征在于，还包括功耗测试、短路测试和开路测试，所述的开路测试包括如下步骤：a1.通过驱动IC读取触摸屏上的各个ITO传感器的电容值，并且定义每个ITO传感器读取的电容值为对应ITO传感器的电容参考值；a2.设置一支紧贴且横向跨越触摸屏表面的金属圆棒，所述的金属圆棒与触摸屏的行方向平行；a3.自触摸屏顶端向底端滚动金属圆棒，金属圆棒每经过一行传感器分别读取所有ITO传感器变化时的电容值；a4.判断每个ITO传感器的电容值是否有从电容参考值至高于接触参考电容值至不高于回落参考电容值的变化，不满足条件则判断该ITO传感器线路为开路；a5.检测金属圆棒的滚动是否到达触摸屏的底端，若已滚动至底端则执行下一步骤，否则继续滚动；所述的短路测试包括如下步骤：b1.驱动IC内部寄存器依次对每个ITO传感器增加一固定的电容值；b2.依次对每个ITO传感器增加电容值时读取该ITO传感器的电容值同时读取其他ITO传感器的电容值；b3.通过计算得出该ITO传感器的电容值与第一短路参考值之间的漏电差值、其他ITO传感器的电容值分别与第二短路参考值之间的充电差值；b4.判断每次增加电容值后的该ITO传感器的漏电差值是否低于漏电参考电容值、其他ITO传感器的充电差值是否高于充电参考电容值，同时满足条件则判断该ITO传感器线路为短路；所述的功耗测试包括如下步骤：测量驱动IC各电源线的电流值并与各电源线设定的电流参考值作比较，如超过一设定范围则判断驱动IC异常。