[发明专利]电容式触摸屏的测试方法及其测试设备

说明书

技术领域

本发明属于显示触摸屏领域，具体涉及一种显示触摸屏的测试方法及其测试设备。

背景技术

在现阶段，触摸屏上的ITO在蚀刻后一般仅仅能测试出其导通和阻抗，通过手指的操作流畅度来判断是否是合格产品，即现在的电容式触摸屏测试主要依靠IC生产商配合TP制造商进行IC功能上的测试，而短路、开路及功耗等参数及电路连接情况并无集合于一起进行测试。

目前，对于开路、短路等手机触摸屏测试方法通常有四种：1.两点模拟测试；2.采用线路板芯片测试；3.装机测试；4.产品线性测试。

采用装机测试，虽然其测试效果较好，但是装机测试如有不良品，需拆机换件，增加工时，影响生产进度；采用线路板芯片测试的方法不适宜批量生产；而采用两点模拟测试的方法，其测试位置不能覆盖整个触摸范围，只是对关键两点进行模拟测试，不能保证完整地对所有ITO膜的图案及银线进行全面检测；采用产品线性测试的测试速度较慢，批量产品如需全部测试，采取此方法的测试效率则较低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种可测试电容屏多项数据及高效检测线路异常的方法，还提供了一种方便、高效测试电容屏线路状况及IC功能的设备。

本发明所述的一种电容式触摸屏的测试方法，包括IC功能测试、功耗测试、短路测试和开路测试。

所述的IC功能测试包括如下步骤：写入固件至驱动IC中，从驱动IC的指定堆栈中读取固件的版本号并且核对。

所述的开路测试包括如下步骤：

a1.通过驱动IC读取触摸屏上的各个ITO传感器的电容值，并且定义每个ITO传感器读取的电容值为对应ITO传感器的电容参考值；

a2.设置一支紧贴且横向跨越触摸屏表面的金属圆棒，所述的金属圆棒与触摸屏的行方向平行；

a3.自触摸屏顶端向底端滚动金属圆棒，金属圆棒每经过一行传感器分别读取所有ITO传感器变化时的电容值；

a4.判断每个ITO传感器的电容值是否有从电容参考值至高于接触参考电容值至不高于回落参考电容值的变化，不满足条件则判断该ITO传感器线路为开路；

a5.检测金属圆棒的滚动是否到达触摸屏的底端，若已滚动至底端则执行下一步骤，否则继续滚动。

其中，步骤a5中分别检测触摸屏的顶部与底部所在行的ITO传感器的电容值是否先后高于接触参考电容值，以确定金属圆棒的滚动是否结束。

进一步地，每个ITO传感器的电容参考值之间、接触参考电容值之间和回落参考电容值之间相同或不相同，每个ITO传感器对应的接触参考电容值大于回落参考电容值，回落参考电容值大于电容参考值。

所述的短路测试包括如下步骤：

b1.驱动IC内部寄存器依次对每个ITO传感器增加一固定的电容值；

b2.依次对每个ITO传感器增加电容值时读取该ITO传感器的电容值同时读取其他ITO传感器的电容值；

b3.通过计算得出该ITO传感器的电容值与第一短路参考值之间的漏电差值、其他ITO传感器的电容值分别与第二短路参考值之间的充电差值；

b4.判断每次增加电容值后的该ITO传感器的漏电差值是否低于漏电参考电容值、其他ITO传感器的充电差值是否高于充电参考电容值，同时满足条件则判断该ITO传感器线路为短路。

所述的功耗测试包括如下步骤：测量驱动IC各电源线的电流值并与各电源线设定的电流参考值作比较，如超过一设定范围则判断驱动IC异常。

本发明还提供一种实现上述电容式触摸屏的测试方法的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，所述的屏幕测试板块包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。

本发明的有益效果是：集合短路测试、开路测试、IC功能测试和功耗测试于一体，可对电容触摸屏多项性能及线路进行检测。而利用金属圆棒可同时对同一行的传感器进行一次性检测，大大提高检测效率。

附图说明

图1为本发明的屏幕测试板块结构图。

图2为电路检测板块的模块关系结构图。

图3为测试过程的流程图。

具体实施方式

本发明所述的一种电容式触摸屏的测试方法，包括IC功能测试、功耗测试、短路测试和开路测试。