[发明专利]珍珠粉的质量检测方法及其应用有效
申请号: | 201210146088.9 | 申请日: | 2012-05-11 |
公开(公告)号: | CN102798641A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 阮华君;廖杰 | 申请(专利权)人: | 浙江长生鸟珍珠生物科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01N5/00 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 康正德;范晓斌 |
地址: | 311804 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及珍珠粉的质量检测方法及其应用,所述质量检测方法包括下述方法的任一种或其组合,1)采用XRD衍射法分析待测样品,珍珠粉中的方解石相含量≤4.0wt.%,文石相含量≥96.0wt.%;和/或,2)采用DSC/TGA分析待测样品,珍珠粉中的有机质的含量为3.5-5.0wt.%;和/或,3)将待测样品加热至200℃-450℃的任一温度后,保温5-10分钟,待其降至室温后,取出待测样品,采用XRD衍射分析法检测其中的方解石相含量,珍珠粉中的方解石含量≤15.0wt.%。本发明的检测方法具有专一性强、稳定性和重现性好、快速灵敏、简便、准确、有效、无干扰等优点。 | ||
搜索关键词: | 珍珠粉 质量 检测 方法 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种珍珠粉的质量检测方法,其特征在于,1)采用XRD衍射法分析待测样品,所述的待测样品选自珍珠粉、珍珠母粉、珍珠层粉、混合粉、其他粉体的任一种,其中,珍珠粉中的方解石相含量≤4.0wt.%,文石相含量≥96.0wt.%;和/或2)将待测样品加热至200℃‑450℃之间的任一温度后,保温5‑10分钟,待其降至室温后,取出待测样品,采用XRD衍射分析法检测其中的方解石相含量,所述的待测样品选自珍珠粉、珍珠母粉、珍珠层粉、混合粉、其他粉体的任一种,其中,珍珠粉中的方解石含量≤15.0wt.%,优选珍珠粉中的方解石含量≤10.0wt.%,更优选珍珠粉中的方解石含量为1.0wt.%‑9.0wt.%;优选珍珠母粉中的方解石含量为18.0wt.%‑60.0wt.%;优选珍珠层粉中的方解石含量为15.0wt.%‑45.0wt.%;优选混合粉中的方解石含量为10.0wt.%‑25.0wt.%;和/或3)采用DSC/TGA分析法检测待测样品,所述的待测样品选自珍珠粉、珍珠母粉、珍珠层粉、混合粉、其他粉体的任一种,其中,珍珠粉中有机质的含量为3.5‑5.0wt.%。
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