[发明专利]基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法有效
申请号: | 201210138501.7 | 申请日: | 2012-05-07 |
公开(公告)号: | CN103390430A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 郭旭峰;于芳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复系统,该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块,其中:BIST模块,用于对存储器进行测试,将检测到的故障地址暂存在BIST模块中,并向BIRA模块输出故障地址;BIRA模块,用于判断访问地址是否为故障地址,并为故障地址分配冗余资源,进行故障地址重映射,从而完成对存储器的修复。本发明同时公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复方法。利用本发明,地址比较效率高,从根本上解决了传统存储器内建自修复方法全搜索地址比较效率低,无法真正修复多故障存储器的缺点,且兼具占用面积小,功耗低的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 哈希表 存储器 修复 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种基于哈希表的存储器内建自修复系统,其特征在于,该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块,其中:BIST模块,用于对存储器进行测试,将检测到的故障地址暂存在BIST模块中,并向BIRA模块输出故障地址;BIRA模块,用于判断访问地址是否为故障地址,并为故障地址分配冗余资源,进行故障地址重映射,从而完成对存储器的修复。
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