[发明专利]一种光伏组件升降检验台无效
| 申请号： | 201210136675.X | 申请日： | 2012-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN102683239A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 赵传杰 | 申请（专利权）人： | 浚丰太阳能(江苏)有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;B25H1/16 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226600 江苏省南通市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光伏组件升降检验台，包括升降平台、用于支撑所述升降平台的升降杆，所述升降杆下方设有底座支架和套在所述底座支架底部的底座套，所述底座支架上设有托盘装置，所述托盘装置上设有气缸，气缸控制按钮安装在该底座支架上。本发明光伏组件升降检验能观察层压前正面朝下的层叠件外观，检验到组件的任何地方，达到不漏检的目的，保证产品质量，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 组件 升降 检验 | ||
【主权项】：
一种光伏组件升降检验台，其特征在于：包括升降平台(1)、用于支撑所述升降平台(1)的升降杆(2)，所述升降杆(2)下方设有底座支架(3)和套在所述底座支架(3)底部的底座套(4)，所述底座支架(3)上设有托盘装置(5)，所述托盘装置(5)上设有气缸(6)，气缸控制按钮(7)安装在该底座支架(3)上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
