[发明专利]三维测量系统与三维测量方法有效
| 申请号： | 201210128811.0 | 申请日： | 2012-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN103376071B | 公开（公告）日： | 2017-06-30 |
| 发明（设计）人： | 余良彬;林栋 | 申请（专利权）人： | 德律科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种三维测量系统以及三维测量方法，其设置有两组以上的投影模块，投影模块可利用不同的入射角度将条纹光线投射至测量平面上，随着入射角度的不同，使条纹光线在测量平面上具有不同的投影波长。或是，不同投影模块的光栅单元的光栅条纹彼此不平行，利用各光栅条纹间的偏转角度，使条纹光线在测量平面上具有不同的投影波长。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种三维测量系统，其特征在于，包含：一测量载具，用以承载一待测物体，一第一投影模块，沿一第一光轴朝向该待测物体照射一第一条纹光线，该第一光轴相对该测量平面具有一第一入射角；一第二投影模块，沿一第二光轴朝向该待测物体照射一第二条纹光线，该第二光轴相对该测量平面具有一第二入射角，该第二入射角的量值不同于该第一入射角的量值，使该第二条纹光线于该测量平面上所形成的一第二投影波长不同于该第一条纹光线于该测量平面上所形成的一第一投影波长；一取像模块，用以撷取该待测物体于该第一条纹光线反射下的一第一条纹影像以及于该第二条纹光线反射下的一第二条纹影像；以及一控制单元，用以控制该第一投影模块及该第二投影模块，并经由该第一条纹影像及该第二条纹影像测量该待测物体的三维形状。
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