[发明专利]一种原子频标的短期稳定度参数优化的方法和装置有效
申请号: | 201210087947.1 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN102624387A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 詹志明;雷海东 | 申请(专利权)人: | 江汉大学 |
主分类号: | H03L7/26 | 分类号: | H03L7/26 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 430056 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种原子频标的短期稳定度参数优化的方法和装置,属于原子频标领域。方法:设置多个工作参数点;每个工作参数点包括多个实验点且每个实验点对应不同的待优化参数,每个待优化参数对应多个实验点且对应的实验点数量相同,与同一个待优化参数相对应的实验点均匀分布在待优化参数的取值范围内且包括取值范围的两端点,每两个工作参数点中最多只有一个实验点相同,且各个实验点在所有工作参数点中出现的次数相等;待优化参数包括调制深度、调制频率和微波功率;根据各工作参数点分别调节调制深度、调制频率和微波功率;计算各工作参数点对应的原子频标的鉴频斜率,选择最佳工作参数点。本发明提高原子频标的短期稳定度。 | ||
搜索关键词: | 一种 原子 标的 短期 稳定 参数 优化 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种原子频标的短期稳定度参数优化的方法,其特征在于,所述方法包括:设置多个工作参数点;每个所述工作参数点包括多个实验点且每个所述实验点对应不同的待优化参数,每个所述待优化参数对应多个实验点且对应的所述实验点数量相同,与同一个待优化参数相对应的实验点均匀分布在所述待优化参数的取值范围内且包括所述取值范围的两端点,每两个所述工作参数点中最多只有一个所述实验点相同,且各个所述实验点在所有所述工作参数点中出现的次数相等;所述待优化参数包括调制深度、调制频率和微波功率;根据各所述工作参数点分别调节所述原子频标的调制深度、调制频率和微波功率;计算各所述工作参数点对应的原子频标的鉴频斜率,并根据所述鉴频斜率选择最佳工作参数点。
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