[发明专利]基于SU-8胶的电喷雾离子聚焦电极的制作方法无效

专利信息
申请号: 201210085211.0 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN102623276A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 邹赫麟;李进 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: H01J9/02 分类号: H01J9/02
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于微机电系统(MEMS)领域,涉及一种基于SU-8胶的电喷雾离子聚焦电极的制作方法。其特征是利用微加工方法制作三层SU-8结构,采用传统紫外光刻技术,结合三次曝光、一次显影技术和常规蒸发镀膜技术制作带有特殊孔结构的SU-8电极。最终得到的电喷雾离子聚焦结构为一圆柱体,高度为300μm,底面直径为3mm,中心位置有一个阶梯圆柱孔,每一台阶高度为100μm,直径从小到大依次为500μm、640μm和780μm。这种方法制作出电喷雾离子聚焦电极,制作工艺简单、成本低、尺寸小并且容易实现。
搜索关键词: 基于 su 喷雾 离子 聚焦 电极 制作方法
【主权项】:
基于SU‑8胶的电喷雾离子聚集电极的制作方法,其特征包括如下步骤:(1)在硅片制作标记点,作为套刻的基准:选用双面抛光的硅片,在硅片一面旋涂一层胶层,对胶层进行前烘;制作一个带有标记点图形的掩膜版,将掩膜版放置在胶层上进行紫外线曝光工艺,使用显影液显影,然后进行后烘;待硅片冷却后,干刻硅,去掉光刻胶,即得到标记点;(2)旋涂牺牲层Omnicoat正胶:在硅片另一面旋涂一层Omnicoat正胶,烘干;(3)进行三次光刻:第一次光刻:在Omnicoat正胶上旋涂第一层SU‑8胶,前烘;取第二个掩膜版,将该掩膜版上的标记点和步骤(1)获得的硅片标记点对准,进行紫外线曝光,后烘;第二次光刻:旋涂第二层SU‑8胶,前烘;取第三个掩膜版,将该掩膜版上的标记点与步骤(1)获得的硅片标记点对准,进行紫外线曝光,后烘;第三次光刻:旋涂第三层SU‑8胶,前烘;取第四个掩膜版,将该掩膜版上的标记点与步骤(1)获得的硅片标记点对准,进行紫外线曝光,后烘;(4)显影脱离:使用SU‑8胶专用显影液显影;将带有胶结构的硅片浸入IPA(异丙醇)中,加以超声振荡,促使胶结构与硅片基底脱离;(5)将脱离的胶结构放入热蒸发镀膜机里蒸镀金属,使得胶结构表面沉积一层金属层,即得到所需要的电喷雾离子聚集电极。
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