[发明专利]一种层析伽玛扫描测量方法有效
| 申请号： | 201210065943.3 | 申请日： | 2012-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN103308534A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 隋洪志;周志波;甘霖;何丽霞;张其欣 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02;G01N23/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种层析伽玛扫描测量方法，它包括以下步骤：(一)对样品进行透射测量，它包括(1)将样品进行定位，轴向分层，(2)对每一层选取等间隔的平移位置点，(3)在每一个水平平移位置点，样品围绕平台中心轴旋转，在0°～180°内等角度选取8个旋转角度，每旋转一次测量一次，每一个水平位置点测量8次；(二)对样品进行发射测量；(三)利用透射伽玛扫描测量获得的介质线衰减系数对发射伽玛射线穿过被测样品的吸收衰减进行校正，从而得到放射性含量。该发明提供了一种测量时间短、分析精度高、测量准确度高的层析伽玛扫描测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 层析 扫描 测量方法 | ||
【主权项】：
一种层析伽玛扫描测量方法，其特征在于，它包括以下步骤：(一)对样品进行透射测量，它包括(1)将样品进行定位，轴向分层，(2)对每一层选取等间隔的平移位置点，(3)在每一个水平平移位置点，样品围绕平台中心轴旋转，在0°～180°内等角度选取8个旋转角度，每旋转一次测量一次，每一个水平位置点测量8次；(二)对样品进行发射测量；(三)利用透射伽玛扫描测量获得的介质线衰减系数对发射伽玛射线穿过被测样品的吸收衰减进行校正，从而得到放射性含量。
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