[发明专利]一种层析伽玛扫描测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及辐射探测技术领域，特别涉及一种用于非均匀放射性物料的层析伽玛扫描测量方法。

背景技术

在放射性废料和废物处置和处理前，需要对其中的放射性含量进行定量检测，对于非均匀的放射性废料和废物的检测，由于无法取得具有代表性的样品用化学分析方法进行定量测量与分析，因此，有效的方法是无损检测技术，使用的测量设备为层析伽玛扫描测量装置，该测量分析技术首先将被测样品轴向分层，每一层中通过水平移动和旋转把样品分为若干个小立方体(体素)，对每一个体素进行测量与分析，得到每个体素中放射性核素的含量，将各个体素放射性的含量相加得到这个被测样品的放射性的含量。

目前，国内外对于直径小于400毫米的被测样品桶，一般采用6×6测量模式，即将每一层样品在水平方向均匀分成6个测量位置，每一个测量位置旋转9个角度(每个角度为20度)，进行54次测量，获得54个测量数据。用这54次测量数据求解36个体素内的介质密度和核素的放射性含量。关于层析伽玛扫描测量方法公开的相关文献较多，但是从现有公开的文献来看，文献中基本上都是对方法的基本原理进行了简要描述，对于其中的具体的操作步骤或方法未进行任何报道，而且现有的测量方法中每次测量的时间相同，测量分析方法的测量时间长，分析精确度低，误操作不易被发现，时常导致实现失败。

发明内容

本发明克服了现有技术中的不足，提供了一种测量时间短、分析精度高、测量准确度高的层析伽玛扫描测量方法。

为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种层析伽玛扫描测量方法，它包括以下步骤：

(一)对样品进行透射测量，它包括(1)将样品进行定位，轴向分层，(2)对每一层选取等间隔的平移位置点，(3)在每一个水平平移位置点，样品围绕平台中心轴旋转，在0°～180°内等角度选取8个旋转角度，每旋转一次测量一次，每一个水平位置点测量8次；(二)对样品进行发射测量；(三)利用透射伽玛扫描测量获得的介质线衰减系数对发射伽玛射线穿过被测样品介质的吸收衰减进行校正，从而得到放射性含量。

本发明还可以：

所述步骤(二)中对样品进行发射测量，包括(1)关闭透射源，(2)将样品进行定位，轴向分层，(3)对每一层选取等间隔的平移位置点，(4)在每一个水平平移位置点，样品围绕平台中心轴旋转，在0°～180°内等角度选取8个旋转角度，每旋转一次测量一次，每一个水平位置点测量8次。

所述的步骤(1)和(2)的测量中，通过感兴趣峰面积和测量时间两个条件控制数据获取时间。

所述步骤(一)选取等间隔的6个平移位置点。

所述步骤(二)选取等间隔的6个平移位置点。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

(1)该方法在每一层的每一个测量位置采用8个角度进行测量，减小了测量时间，同时利用测量位置对称点测量数据的一致性对实验进行检验，及时的判断了实验正确性，保证了测量工作正常运行。

(2)在进行数据获取时，利用感兴趣峰面积和测量时间两个条件控制数据获取时间，减小了测量时间，同时每个测量点数据统计性有较大改善，大大提高了测量结果的准确性。

(3)在测量数据分析时，剔除部分统计性差的数据，提高了数据分析的准确性，缩短了分析时间。

附图说明

图1层析伽玛扫描装置结构俯视示意图

图2被测样品测量示意图

1前准直器、2透射源、3屏蔽体、4支架、5后准直器、6探测器

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述：