[发明专利]测试系统有效
| 申请号： | 201210060341.9 | 申请日： | 2012-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN102800364A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 郭硕芬;李日农;巫松洸 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试系统，包含：一内建自测电路，用以产生一第一信号；一储存装置，用以储存该第一信号以形成一第二信号；一第一逻辑电路，用以产生一第三信号；一第二逻辑电路；一寄存器；以及一旁通电路；其中于一第一模式时，该内建自测电路传送该第一信号至该储存装置，且该储存装置输出该第二信号至该寄存器进行寄存后，该寄存器将寄存的该第二信号传送至该内建自测电路以进行对该储存装置的测试；于一第二模式时，该第一逻辑电路传送一第三信号至该寄存器进行寄存后，该寄存器将寄存的该第三信号传送至该第二逻辑电路。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种测试系统，包含：一内建自测电路，用以产生一第一信号；一储存装置，耦接至所述内建自测电路，用以储存所述第一信号以形成一第二信号；一第一逻辑电路，耦接至所述储存装置，用以产生一第三信号；一第二逻辑电路，耦接至所述储存装置；一寄存器，耦接至所述储存装置以及所述第二逻辑电路；以及一旁通电路，耦接至所述内建自测电路、所述第一逻辑电路以及所述寄存器；其中在一第一模式时，所述内建自测电路传送所述第一信号至所述储存装置，且所述储存装置输出所述第二信号至所述寄存器进行寄存后，所述寄存器将寄存的所述第二信号传送至所述内建自测电路以进行对所述储存装置的测试；在一第二模式时，所述第一逻辑电路传送一所述第三信号至所述寄存器进行寄存后，所述寄存器将寄存的所述第三信号传送至所述第二逻辑电路，以对所述第一逻辑电路至所述第二逻辑电路之间信号的传送路径进行测试，或是对所述第一逻辑电路和所述第二逻辑电路的至少其中之一进行测试。
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