[发明专利]测试系统有效

专利信息
申请号: 201210060341.9 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102800364A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 郭硕芬;李日农;巫松洸 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种测试系统,包含:

一内建自测电路,用以产生一第一信号;

一储存装置,耦接至所述内建自测电路,用以储存所述第一信号以形成一第二信号;

一第一逻辑电路,耦接至所述储存装置,用以产生一第三信号;

一第二逻辑电路,耦接至所述储存装置;

一寄存器,耦接至所述储存装置以及所述第二逻辑电路;

以及

一旁通电路,耦接至所述内建自测电路、所述第一逻辑电路以及所述寄存器;

其中在一第一模式时,所述内建自测电路传送所述第一信号至所述储存装置,且所述储存装置输出所述第二信号至所述寄存器进行寄存后,所述寄存器将寄存的所述第二信号传送至所述内建自测电路以进行对所述储存装置的测试;

在一第二模式时,所述第一逻辑电路传送一所述第三信号至所述寄存器进行寄存后,所述寄存器将寄存的所述第三信号传送至所述第二逻辑电路,以对所述第一逻辑电路至所述第二逻辑电路之间信号的传送路径进行测试,或是对所述第一逻辑电路和所述第二逻辑电路的至少其中之一进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试系统,其中,所述内建自测电路包含一比较器,所述比较器对所述第一信号与所述寄存的所述第二信号进行比较,以据以进行对所述储存装置的测试。

3.根据权利要求1所述的测试系统,还包含:

一切换电路,包含所述寄存器,用以接收所述第二信号与所述第三信号,并在所述第一模式时输出所述寄存的所述第二信号至所述内建自测电路,且在所述第二模式时输出所述寄存的所述第三信号至所述第二逻辑电路。

4.根据权利要求3所述的测试系统,其中,所述切换电路包含:

一第一多路复用器,具有一第一输入端耦接所述旁通电路的输出,以及一第二输入端耦接至所述储存装置的输出;

所述寄存器;以及

一第二多路复用器,具有:

一第一输入端耦接所述寄存器;以及

一输出端耦接所述内建自测电路以及所述第二逻辑电路。

5.根据权利要求4所述的测试系统,其中,所述第二多路复用器还包含:

一第二输入端耦接所述第一多路复用器的一输出。

6.根据权利要求4所述的测试系统,在所述第一模式时,所述内建自测电路传送所述第一信号至所述储存装置,且所述储存装置输出所述第二信号至所述第一多路复用器的所述第二输入端,所述寄存器接收来自所述第一多路复用器的所述第二信号并将所述寄存的所述第二信号传送至所述第二多路复用器的所述第一输入端,所述第二多路复用器将所述第二信号传送至所述内建自测电路。

7.根据权利要求4所述的测试系统,在所述第二模式时,所述第一逻辑电路传送所述第三信号至所述旁通电路,所述旁通电路将所述第三信号传送至所述第一多路复用器的所述第一输入端,所述寄存器接收来自所述第一多路复用器的所述第三信号并将所述寄存的所述第三信号传送至所述第二多路复用器的所述第一输入端,所述第二多路复用器将所述寄存的第三信号传送至所述第二逻辑电路。

8.根据权利要求3所述的测试系统,其中,所述切换电路包含:

一第一多路复用器,具有一第一输入端耦接所述旁通电路的输出,以及一第二输入端耦接至所述储存装置的输出;

所述寄存器;以及

一第二多路复用器,具有:

一第一输入端,耦接所述寄存器以及所述内建自测电路;

以及

一输出端,耦接所述第二逻辑电路。

9.根据权利要求8所述的测试系统,其中,所述第二多路复用器还包含:

一第二输入端,耦接所述储存装置的输出。

10.根据权利要求8所述的测试系统,在所述第一模式时,所述内建自测电路传送所述第一信号至所述储存装置,且所述储存装置输出所述第二信号至所述第一多路复用器的所述第二输入端,所述寄存器接收来自所述第一多路复用器的所述第二信号并将所述寄存的所述第二信号传送至所述内建自测电路。

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