[发明专利]确定检查对象与焦点的距离的方法和计算机断层造影设备有效
| 申请号： | 201210060231.2 | 申请日： | 2012-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN102670231A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | K.斯蒂尔斯托佛 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01B15/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定检查对象(105，106，107)与计算机断层造影设备的焦点(101)的距离(108，109，110)的方法以及一种可以用来执行该方法的计算机断层造影设备。按照本发明的方法具有如下的步骤：发射从焦点(101)出发对准检查对象(105，106，107)的X射线(102)，利用探测器(104)采集通过X射线(102)与检查对象(105，106，107)的相互作用而产生的散射，其中所述探测器(104)基本上沿着对准所述检查对象(105，106，107)的X射线(102)的中央射线方向(103)采集散射的强度分布(142，143，144)，以及基于所采集的强度分布(142，143，144)确定所述距离(108，109，110)。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 检查 对象 焦点 距离 方法 计算机 断层 造影 设备 | ||
【主权项】：
一种用于确定检查对象(105，106，107)与计算机断层造影设备的焦点(101)的距离(108，109，110)的方法，具有如下的步骤：‑发射从焦点(101)出发对准检查对象(105，106，107)的X射线(102)，‑利用探测器(104)采集通过X射线(102)与检查对象(105，106，107)的相互作用而产生的散射，其中所述探测器(104)基本上沿着对准所述检查对象(105，106，107)的X射线(102)的中央射线方向(103)采集散射的强度分布(142，143，144)，以及‑基于所采集的强度分布(142，143，144)确定距离(108，109，110)。
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