[发明专利]确定检查对象与焦点的距离的方法和计算机断层造影设备

权利要求书

1.一种用于确定检查对象(105，106，107)与计算机断层造影设备的焦点(101)的距离(108，109，110)的方法，具有如下的步骤：

-发射从焦点(101)出发对准检查对象(105，106，107)的X射线(102)，

-利用探测器(104)采集通过X射线(102)与检查对象(105，106，107)的相互作用而产生的散射，其中所述探测器(104)基本上沿着对准所述检查对象(105，106，107)的X射线(102)的中央射线方向(103)采集散射的强度分布(142，143，144)，以及

-基于所采集的强度分布(142，143，144)确定距离(108，109，110)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定强度分布(142，143，144)的最大值，以用于确定所述距离(108，109，110)。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在考虑X射线(102)的能量的情况下确定所述距离(108，109，110)。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在考虑在采集所述强度分布(142，143，144)的时间点焦点(101)与探测器(104)的相对布置的情况下确定所述距离(108，109，110)。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，提供查询表，从所述查询表关于沿着中央射线轴的确定的强度最大值的位置得出所述距离(108，109，110)。

6.一种计算机断层造影设备，具有：

-焦点，从所述焦点出发可以发射对准检查对象(105，106，107)的X射线(102)，

-探测器(104)，利用所述探测器可以采集通过X射线(102)与检查对象(105，106，107)的相互作用而产生的散射，其中所述探测器(104)基本上沿着对准检查对象(105，106，107)的X射线的中央射线方向(103)采集散射的强度分布(142，143，144)，以及

-分析装置，利用所述分析装置可以基于所采集的强度分布(142，143，144)来确定所述距离。