[发明专利]激光二极管的测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201210056436.3 | 申请日： | 2012-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN103308837A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 李秉衡;曾国峰 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种可降低成本、提高效率的激光二极管测试装置及测试方法。该测试方法包括：根据预定的光电特性计算一个步进增长的电流的多个电流值；获取控制参数；根据该多个电流值及该控制参数向一个激光二极管晶粒提供该电流；根据该控制参数测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；根据该多个电流值、电压值及光功率值生成一个表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图；根据该数据表及该曲线图判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性，从而判断该激光二极管晶粒是否合格。该激光二极管晶粒若合格则被封装成一个激光二极管。 | ||
| 搜索关键词： | 激光二极管 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，用于测试一个激光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该激光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成激光二极管，该测试装置包括：一个电流源；一个光功率计；及一个处理器，其包括一个计算单元，用于根据该预定的光电特性计算一个步进增长的电流的该多个电流值；一个用户界面，用于接收用户输入以确定该电流源及该光功率计的控制参数；一个控制单元，用于根据该多个电流值及该控制参数控制该电流源向该激光二极管晶粒提供该电流并测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及控制该光功率计测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；一个数据生成单元，用于根据该多个电流值及测量到的该多个电压值及该多个光功率值在该用户界面上生成用于表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图以供判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性。
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