[发明专利]激光二极管的测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，用于测试一个激光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该激光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成激光二极管，该测试装置包括：

一个电流源；

一个光功率计；及

一个处理器，其包括

一个计算单元，用于根据该预定的光电特性计算一个步进增长的电流的该多个电流值；

一个用户界面，用于接收用户输入以确定该电流源及该光功率计的控制参数；

一个控制单元，用于根据该多个电流值及该控制参数控制该电流源向该激光二极管晶粒提供该电流并测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及控制该光功率计测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；

一个数据生成单元，用于根据该多个电流值及测量到的该多个电压值及该多个光功率值在该用户界面上生成用于表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图以供判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该电流源包括一个用于测试该多个电压值的电压计。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括一个用于承载该激光二极管晶粒的卡盘。

4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括一个设置在该卡盘上的悬架，该悬架包括有一个第一悬臂，该光功率计包括一个设置在该第一悬臂上且与该激光二极管晶粒正对的光侦测器及一个与该光侦测器连接且用于测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值的功率计。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该悬架包括一个转盘，该第一悬臂设置固定于该转盘上，该转盘用于通过转动调整该光侦测器的位置至该光侦测器与该激光二极管晶粒正对。

6.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，该悬架还包括一个第二悬臂及一个相机模组；该第二悬臂固定于该转盘上；该相机模组设置在该第二悬臂上；该转盘还用于通过转动调整该相机模组的位置至该相机模组与该激光二极管晶粒正对，该相机模组用于拍摄该激光二极管晶粒的图像以根据该图像分析该激光二极管晶粒是否存在外观不良。

7.一种测试方法，用于测试一个激光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该激光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成激光二极管，该测试方法包括以下步骤：

根据该预定的光电特性计算一个步进增长的电流的多个电流值；

获取控制参数；

根据该多个电流值及该控制参数向该激光二极管晶粒提供该电流；

根据该控制参数测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；

根据该多个电流值、电压值及光功率值生成一个表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图；

根据该数据表及该曲线图判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性，从而判断该激光二极管晶粒是否合格。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，该测试方法还包括：

拍摄该激光二极管晶粒的图像；及

根据该图像分析该激光二极管晶粒是否存在外观不良，若该激光二极管晶粒是存在外观不良，则不封装该激光二极管晶粒。