[发明专利]激光二极管的测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及激光二极管，特别设计一种激光二极管的测试装置及测试方法。

背景技术

激光二极管(laser diode, LD)由激光二极管晶粒(LD die)封装而成，其质量是否合格主要取决于激光二极管晶粒，封装对激光二极管的质量影响较小。然而，目前激光二极管往往需在封装完后利用光纤等装置辅助才能测量光电特性以判断质量是否合格，常常在激光二极管晶粒不合格的情况下还进行封装，造成浪费，提高激光二极管的成本。

另外，现有的激光二极管测试主要靠人工，由操作员设定并为激光二极管提供不同的电源，然后测量激光二极管发出的对应光功率，从而得到激光二极管的光电特性。测试效率低。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种可降低成本且提高效率的测试装置。

一种测试装置，用于测试一个激光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该激光二极管晶粒在满足该预定的光电特性后被封装成一个激光二极管，该测试装置包括：

一个电流源；

一个光功率计；及

一个处理器，其包括

一个计算单元，用于根据该预定的光电特性计算一个步进增长的电流的该多个电流值；

一个用户界面，用于接收用户输入以确定该电流源及该光功率计的控制参数；

一个控制单元，用于根据该多个电流值及该控制参数控制该电流源向该激光二极管晶粒提供该电流并测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及控制该光功率计测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；及

一个数据生成单元，用于根据该多个电流值及测量到的该多个电压值及该多个光功率值在该用户界面上生成用于表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图以供判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性。

一种测试方法，用于测试一个激光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该激光二极管晶粒在满足该预定的光电特性后被封装成一个激光二极管，该测试方法包括以下步骤：

根据该预定的光电特性计算一个步进增长的电流的多个电流值；

获取控制参数；

根据该多个电流值及该控制参数向该激光二极管晶粒提供该电流；

根据该控制参数测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值及测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值；

根据该多个电流值、电压值及光功率值生成一个表示该激光二极管晶粒的光电特性的一个数据表及一个曲线图；

根据该数据表及该曲线图判断该激光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性，从而判断该激光二极管晶粒是否合格。

采用该测试装置及测试方法可以在激光二极管制造过程中直接对激光二极管晶粒进行测试，并仅封装测试合格的激光二极管晶粒，避免封装不合格的激光二极管晶粒，造成浪费，从而降低激光二极管的成本。另外，该测试装置及测试方法可以实现自动测试，达到提高效率的效果。

附图说明

图1为本发明较佳实施方式的激光二极管测试方法的流程图。

图2为本发明较佳实施方式的激光二极管测试装置的示意图。

图3为图2的测试装置的处理器的示意图。

主要元件符号说明