[发明专利]制备硅基InGaAsP为有源区的1550nm激光器的方法有效

专利信息
申请号: 201210033017.8 申请日: 2012-02-14
公开(公告)号: CN102545054A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 周旭亮;于红艳;王伟;潘教青;王圩 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/323 分类号: H01S5/323
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种制备硅基InGaAsP为有源区的1550nm激光器的方法,包括:在硅衬底上生长二氧化硅层;在二氧化硅层上沿着硅衬底的<110>方向刻蚀出沟槽;清洗;先在沟槽内依次生长第一缓冲层和第二缓冲层;接着在第二缓冲层和二氧化硅层上生长第三缓冲层,然后在第三缓冲层生长顶层;将顶层抛光,抛光后的粗糙度小于1nm,然后清洗;在顶层上依次外延第四缓冲层、刻蚀停止层以及激光器结构;将激光器结构刻蚀成深脊,在深脊上刻蚀成浅脊;在深脊和浅脊的表面及刻蚀停止层上生长二氧化硅绝缘层;在浅脊上形成窗口,去除刻蚀停止层上的二氧化硅绝缘层;在浅脊的窗口处溅射钛铂金P电极;在刻蚀停止层上蒸发金锗镍N电极;退火。
搜索关键词: 制备 ingaasp 有源 1550 nm 激光器 方法
【主权项】:
一种制备硅基InGaAsP为有源区的1550nm激光器的方法,包括以下步骤:步骤1:在硅衬底上生长二氧化硅层;步骤2:采用全息曝光和ICP方法,在二氧化硅层上沿着硅衬底的<110>方向刻蚀出沟槽;步骤3:分别用piranha、SC2、HF和去离子水清洗,除去沟槽底部剩余的二氧化硅层,露出硅衬底;步骤4:采用低压MOCVD的方法,先在沟槽内依次生长第一缓冲层和第二缓冲层,其高度超出二氧化硅层;接着在第二缓冲层和二氧化硅层上生长第三缓冲层,然后在第三缓冲层生长顶层,第三缓冲层和顶层采用SiH4掺杂;步骤5:采用化学机械抛光的方法,将顶层抛光,抛光后的粗糙度小于1nm,然后清洗;步骤6:采用MOCVD的方法,在顶层上依次外延第四缓冲层、刻蚀停止层以及激光器结构;步骤7:采用传统光刻、ICP刻蚀与湿法刻蚀结合的方法,将激光器结构刻蚀成深脊,在深脊上刻蚀成浅脊;步骤8:利用PECVD的方法,在深脊和浅脊的表面及刻蚀停止层上生长二氧化硅绝缘层;步骤9:采用多次光刻、刻蚀,在浅脊上形成窗口,去除刻蚀停止层上的二氧化硅绝缘层;步骤10:在浅脊的窗口处溅射钛铂金P电极;步骤11:在刻蚀停止层上蒸发金锗镍N电极;步骤12:退火,完成器件的制备。
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