[发明专利]欠压检测电路有效
| 申请号： | 201210008135.3 | 申请日： | 2012-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN102565516A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 程晋 | 申请（专利权）人： | 上海山景集成电路技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/165 | 分类号： | G01R19/165 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 200135 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种欠压检测电路。该欠压检测电路应用于能提供基准电压的电路，用于基于所述能提供基准电压的电路包含的晶体管是否处于饱和区，来输出所述基准电压是否有效的指示信号。本发明不受温度和工艺变化的影响，具有较高的可靠性，而且可以用标准CMOS工艺加以实现，可以整合在各种基准源架构中，并且只需极低的功耗，具有广泛的应用性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种欠压检测电路，应用于能提供基准电压的电路，其特征在于，所述欠压检测电路基于所述能提供基准电压的电路包含的晶体管是否处于饱和区，来输出所述基准电压是否有效的指示信号。
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