[发明专利]欠压检测电路有效
| 申请号： | 201210008135.3 | 申请日： | 2012-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN102565516A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 程晋 | 申请（专利权）人： | 上海山景集成电路技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/165 | 分类号： | G01R19/165 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 200135 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 电路 | ||
【权利要求书】：
1.一种欠压检测电路，应用于能提供基准电压的电路，其特征在于，所述欠压检测电路基于所述能提供基准电压的电路包含的晶体管是否处于饱和区，来输出所述基准电压是否有效的指示信号。
2.根据权利要求1所述的欠压检测电路，其特征在于：当所述能提供基准电压的电路连接有启动电路时，所述欠压检测电路连接所述启动电路输出端，用于当所述启动电路启动所述能提供基准电压的电路的启动作业完成后，基于所述能提供基准电压的电路包含的晶体管是否处于饱和区来输出所述基准电压是否有效的指示信号。
3.根据权利要求1或2所述的欠压检测电路，其特征在于：所述欠压检测电路为具有正反馈的电路。
4.根据权利要求1或2所述的欠压检测电路，其特征在于：所述晶体管包括NMOS管、PMOS管中的一种或两种。
5.根据权利要求1或2所述的欠压检测电路，其特征在于：所述能提供基准电压的电路包括带隙电压基准源。
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