[发明专利]以参考特征匹配图像特征的方法在审

专利信息
申请号: 201180073205.7 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN103959308A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: D·库尔茨;彼得·梅尔 申请(专利权)人: METAIO有限公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06T7/20
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 李翀
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种以参考特征匹配图像特征的方法,该方法包括下列步骤:提供通过一拾取装置拾取的一当前图像,提供一组参考特征,其中每个该等参考特征包括至少一第一参数,所述第一参数是至少部分地指示有关一广域坐标系统的参考特征的一位置和/或方位,其中所述广域坐标系统是一地面坐标系统或一对象坐标系统,或所述第一参数是至少部分地指示有关一高度的参考特征的一位置,在一特征检测过程中检测所述当前图像中的至少一特征,关联所述检测特征于至少一第二参数,所述第二参数是至少部分地指示有关所述广域坐标系统的检测特征的一位置和/或方位,或所述第二参数是至少部分地指示有关一高度的检测特征的一位置,以及通过决定在所述至少一第一参数以及所述至少一第二参数之间的一相似度测量,而匹配所述检测特征与所述一组参考特征的参考特征的至少之一。
搜索关键词: 参考 特征 匹配 图像 方法
【主权项】:
一种以参考特征匹配图像特征的方法,包括下列步骤:提供通过一拾取装置拾取的一当前图像,提供一组参考特征,其中每个所述参考特征包括至少一第一参数,所述第一参数是至少部分地指示有关一广域坐标系统的参考特征的一位置和/或方位,其中所述广域坐标系统是一地面坐标系统或一对象坐标系统,或所述第一参数是至少部分地指示有关一高度的参考特征的一位置,在一特征检测过程中检测所述当前图像中的至少一特征,关联所述检测特征于至少一第二参数,所述第二参数是至少部分地指示有关所述广域坐标系统的检测特征的一位置和/或方位,或所述第二参数是至少部分地指示有关一高度的检测特征的一位置,通过决定在所述至少一第一参数以及所述至少一第二参数之间的一相似度测量,匹配所述检测特征与所述一组参考特征的参考特征的至少之一。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于METAIO有限公司,未经METAIO有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180073205.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top