[发明专利]以参考特征匹配图像特征的方法在审
| 申请号: | 201180073205.7 | 申请日: | 2011-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN103959308A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
| 发明(设计)人: | D·库尔茨;彼得·梅尔 | 申请(专利权)人: | METAIO有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06T7/20 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 李翀 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | 一种以参考特征匹配图像特征的方法,该方法包括下列步骤:提供通过一拾取装置拾取的一当前图像,提供一组参考特征,其中每个该等参考特征包括至少一第一参数,所述第一参数是至少部分地指示有关一广域坐标系统的参考特征的一位置和/或方位,其中所述广域坐标系统是一地面坐标系统或一对象坐标系统,或所述第一参数是至少部分地指示有关一高度的参考特征的一位置,在一特征检测过程中检测所述当前图像中的至少一特征,关联所述检测特征于至少一第二参数,所述第二参数是至少部分地指示有关所述广域坐标系统的检测特征的一位置和/或方位,或所述第二参数是至少部分地指示有关一高度的检测特征的一位置,以及通过决定在所述至少一第一参数以及所述至少一第二参数之间的一相似度测量,而匹配所述检测特征与所述一组参考特征的参考特征的至少之一。 | ||
| 搜索关键词: | 参考 特征 匹配 图像 方法 | ||
【主权项】:
一种以参考特征匹配图像特征的方法,包括下列步骤:提供通过一拾取装置拾取的一当前图像,提供一组参考特征,其中每个所述参考特征包括至少一第一参数,所述第一参数是至少部分地指示有关一广域坐标系统的参考特征的一位置和/或方位,其中所述广域坐标系统是一地面坐标系统或一对象坐标系统,或所述第一参数是至少部分地指示有关一高度的参考特征的一位置,在一特征检测过程中检测所述当前图像中的至少一特征,关联所述检测特征于至少一第二参数,所述第二参数是至少部分地指示有关所述广域坐标系统的检测特征的一位置和/或方位,或所述第二参数是至少部分地指示有关一高度的检测特征的一位置,通过决定在所述至少一第一参数以及所述至少一第二参数之间的一相似度测量,匹配所述检测特征与所述一组参考特征的参考特征的至少之一。
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