[发明专利]以参考特征匹配图像特征的方法在审

专利信息
申请号: 201180073205.7 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN103959308A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: D·库尔茨;彼得·梅尔 申请(专利权)人: METAIO有限公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06T7/20
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 李翀
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 参考 特征 匹配 图像 方法
【权利要求书】:

1.一种以参考特征匹配图像特征的方法,包括下列步骤:

提供通过一拾取装置拾取的一当前图像,

提供一组参考特征,其中每个所述参考特征包括至少一第一参数,所述第一参数是至少部分地指示有关一广域坐标系统的参考特征的一位置和/或方位,其中所述广域坐标系统是一地面坐标系统或一对象坐标系统,或所述第一参数是至少部分地指示有关一高度的参考特征的一位置,

在一特征检测过程中检测所述当前图像中的至少一特征,

关联所述检测特征于至少一第二参数,所述第二参数是至少部分地指示有关所述广域坐标系统的检测特征的一位置和/或方位,或所述第二参数是至少部分地指示有关一高度的检测特征的一位置,

通过决定在所述至少一第一参数以及所述至少一第二参数之间的一相似度测量,匹配所述检测特征与所述一组参考特征的参考特征的至少之一。

2.依据权利要求1的方法,包括当匹配所述检测特征时通过在所述一组参考特征内的一减低数量的参考特征而定义一搜寻空间的步骤,其中所述搜寻空间根据所述至少一第二参数被决定。

3.依据权利要求1或2的方法,其中所述广域坐标系统提供有关一特征的地理参考位置和/或方位的信息。

4.依据权利要求1至3之一的方法,其中所述至少一第一以及第二参数中至少之一是至少部分地指示一经度以及纬度。

5.依据权利要求1至4之一的方法,其中所述至少一第一以及第二参数中至少之一是至少部分地指示有关相对于所述拾取装置的一相对高度、或一绝对高度的一位置。

6.依据权利要求1至5之一的方法,其中所述检测特征的位置和/或方位通过一方程式被描述,所述方程式描述一几何形状,例如,一点、一射线、一直线、一圆、一圆锥体、或一圆柱体。

7.依据权利要求6的方法,其中匹配所述检测特征与所述一组参考特征的步骤仅考虑该组参考特征中具有至所述几何形状的距离是在一阈值之下的一位置的那些参考特征为可能的匹配。

8.依据权利要求1至7之一的方法,其中所述至少一第一以及第二参数中至少之一是在一特征描述符领域中和/或在一空间领域中的一空间数据结构的部份,例如,其中所述空间数据结构包含一限定容积,例如,轴对齐方块、定位方块、球形、任意容积,或一网格,或任何类型的树型,例如,四分树型(Quadtree)、八叉树型(Octree)、二元空间分割树型(BSP-tree)、k维空间树型(kd-tree)、多维空间索引树型(R-tree)。

9.依据权利要求1至8之一的方法,其中当拾取所述当前图像时,所述至少一第二参数使用有关所述广域坐标系统的拾取装置的一至少部分的位置和/或方位被决定。

10.依据权利要求1至9之一的方法,其中所述至少一第二参数使用所述当前图像中的至少一元素的一深度作为所述检测特征的一部分而被决定。

11.依据权利要求1至10之一的方法,其中所述至少一第二参数使用相关于所述拾取装置的一坐标系统中的一重力向量的一测量值以及所述当前图像中的至少一元素的一深度作为所述检测特征的一部分而被决定。

12.依据权利要求11的方法,其中所述检测特征的位置是至少部分地通过具有一法线是或对应至所述重力向量的一平面被描述,而所述平面指示高度。

13.依据权利要求9至12之一的方法,其中所述至少一第二参数通过进一步使用所述拾取装置的一组固有参数、以及所述当前图像中的所述检测特征的一位置而被决定。

14.依据权利要求1至13之一的方法,进一步包括通过组合朝向所述拾取装置的所述检测特征的一决定的距离以及所述拾取装置的方位,而计算有关所述广域坐标系统或所述拾取装置的一坐标系统的所述检测特征的一3维位置。

15.依据权利要求1至14之一的方法,其中所述一组参考特征取自至少一参考图像,所述至少一参考图像通过不同于所述拾取装置的一第二拾取装置被记录。

16.如权利要求15的方法,其中所述至少一参考图像的拾取时间是至少比所述当前图像的拾取时间早一天。

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