[发明专利]飞行时间型质量分析装置有效
申请号: | 201180068055.0 | 申请日: | 2011-12-20 |
公开(公告)号: | CN103380479A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 绢川亨;古桥治 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人神户大学;株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/40 | 分类号: | H01J49/40;G01N27/62;H01J49/06 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 说明双级式反射器的实施例。(1)设想由基极电位XA(U)的均匀电场构成的反射器,通过调整其设计参数来抵消全部飞行时间T(E)的E=E0时的一次微分和二次微分,求出电位值为E0的中心轴上的二次收敛位置(Mamyrin解)。(2)以二次收敛位置为起始点,计算与XA(U)叠加的校正电位XC(U),使得在二次收敛位置的更深侧反射的离子的T(E)固定。(3)确定反射电极的电压值,使得在中心轴上形成实际电位XR(U)=XA(U)+XC(U)。如以上那样,以Mamyrin解的基极电位进行能量补偿到二次为止,但通过叠加校正电位而进一步将能量补偿扩展到无限的高次,对于在校正电位部反射的离子实现完全等时性。另外,在校正电位开始点的前后实际电位平滑地连接,偏离均匀电场的偏差最小,因此最大限度地抑制由离子轨迹的发散和轴偏离造成的时间像差。 | ||
搜索关键词: | 飞行 时间 质量 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种飞行时间型质量分析装置,具备:离子射出部,其对分析对象的离子赋予固定的能量来进行加速;离子反射器,其用于通过电场的作用使从该离子射出部射出的离子反射而折返;离子检测器,其检测被该离子反射器反射而从该离子反射器出来的离子;以及反射器驱动单元,其为了在上述离子反射器的内部形成反射电场而驱动该离子反射器,该飞行时间型质量分析装置的特征在于,上述反射器驱动单元向该离子反射器施加电压,使得在设沿着上述离子反射器的中心轴的坐标为X时,电位在该离子反射器整体上沿着该离子反射器的中心轴单调变化,其结果是在该离子反射器的中空区域形成还能唯一地得到反函数XA(U)的规定的电位分布UA(X),由此在该离子反射器内部的坐标X0且电位E0的位置处形成N次收敛位置,并且,上述反射器驱动单元向上述离子反射器施加电压,使得在以坐标X0的N次收敛位置为起始点的深侧的空间内在上述坐标X0附近能够用与{U(X)‑E0}N+3/2成比例的式子进行近似、且从上述坐标X0起在深侧成为平滑函数的规定的校正电位XC(U)与上述规定的电位XA(U)叠加。
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