[发明专利]飞行时间型质量分析装置

权利要求书

1.一种飞行时间型质量分析装置，具备：离子射出部，其对分析对象的离子赋予固定的能量来进行加速；离子反射器，其用于通过电场的作用使从该离子射出部射出的离子反射而折返；离子检测器，其检测被该离子反射器反射而从该离子反射器出来的离子；以及反射器驱动单元，其为了在上述离子反射器的内部形成反射电场而驱动该离子反射器，该飞行时间型质量分析装置的特征在于，

上述反射器驱动单元向该离子反射器施加电压，使得在设沿着上述离子反射器的中心轴的坐标为X时，电位在该离子反射器整体上沿着该离子反射器的中心轴单调变化，其结果是在该离子反射器的中空区域形成还能唯一地得到反函数X_A(U)的规定的电位分布U_A(X)，由此在该离子反射器内部的坐标X₀且电位E₀的位置处形成N次收敛位置，

并且，上述反射器驱动单元向上述离子反射器施加电压，使得在以坐标X₀的N次收敛位置为起始点的深侧的空间内在上述坐标X₀附近能够用与{U(X)-E₀}^N+3/2成比例的式子进行近似、且从上述坐标X₀起在深侧成为平滑函数的规定的校正电位X_C(U)与上述规定的电位X_A(U)叠加。

2.根据权利要求1所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在上述离子射出部与上述离子反射器之间还具备前方离子漂移部，该前方离子漂移部用于使出自该离子射出部的离子朝向前方飞行，上述离子反射器接着通过电场的作用使通过了该前方离子漂移部的离子反射而折返，

在该离子反射器与上述离子检测器之间还具备后方离子漂移部，该后方离子漂移部用于使被该离子反射器反射而从该离子反射器出来的离子接着向与上述前方离子漂移部相反的方向飞行。

3.根据权利要求1所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子射出部与上述离子反射器之间和/或该离子反射器与上述离子检测器之间不隔着空间地进行连接。

4.根据权利要求1～3中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

成为上述规定的电位分布X_A(U)的电场至少在上述坐标X₀附近是均匀电场。

5.根据权利要求1～4中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在上述离子反射器的中空区域配置栅格电极，通过该栅格电极将该离子反射器分割为多个级。

6.根据权利要求1～4中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述飞行时间型质量分析装置是在上述离子反射器的中空区域没有栅格电极的无栅格构造。

7.根据权利要求1～6中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子反射器是单级式，在该离子反射器内部的以一次收敛位置为起始点的该起始点的边界附近叠加与N=1的{U(X)-E₀}^2.5成比例的校正电位。

8.根据权利要求1～6中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子反射器是双级式，在该离子反射器内部的以二次收敛位置为起始点的该起始点的边界附近叠加与N=2的{U(X)-E₀}^3.5成比例的校正电位。

9.根据权利要求1～6中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子反射器是双级式，在该离子反射器内部的以一次收敛位置为起始点的该起始点的边界附近叠加与N=1的{U(X)-E₀}^2.5成比例的校正电位。

10.根据权利要求1～9中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子射出部是正交加速型。

11.根据权利要求1～9中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述离子射出部是基质辅助激光解吸/电离离子源。