[发明专利]场效应晶体管、显示元件、图像显示设备和系统有效

专利信息
申请号: 201180019311.7 申请日: 2011-02-15
公开(公告)号: CN102844874B8 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 植田尚之;中村有希;曾根雄司;安部由希子 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/363
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 郭定辉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 所公开的场效应晶体管包括向其施加栅电压的栅极,用于响应于所述栅电压获取电流的源极和漏极,相邻于所述源极和所述漏极提供的有源层,该有源层由n型氧化物半导体形成,和在所述栅极和所述有源层之间提供的栅绝缘层。在场效应晶体管中,该n型氧化物半导体由n型掺杂化合物形成,该n型掺杂化合物具有通过引入三价阳离子、四价阳离子、五价阳离子和六价阳离子的至少一个获得的晶相的化学成分。
搜索关键词: 场效应 晶体管 显示 元件 图像 设备 系统
【主权项】:
一种场效应晶体管,包括:栅极,向其施加栅电压;源极和漏极,用于响应于所述栅电压获取电流;有源层,相邻于所述源极和所述漏极提供,所述有源层由n型氧化物半导体形成;以及栅绝缘层,在所述栅极和所述有源层之间提供,其中,所述n型氧化物半导体由n型掺杂化合物形成,所述n型掺杂化合物具有通过引入三价阳离子、四价阳离子、五价阳离子和六价阳离子的至少一个获得的晶相的化学成分;所述n型氧化物半导体由n型掺杂立方晶化合物形成,所述n型掺杂立方晶化合物通过引入三价阳离子、四价阳离子、五价阳离子和六价阳离子的至少一个获得;所述n型氧化物半导体由A2DO4代表的尖晶石化合物形成,其中,A是包括Mg2+、Zn2+和Cd2+的一个或多个二价阳离子,并且D是包括Ti4+和Sn4+的一个或多个四价阳离子,并且其中,由所述尖晶石化合物形成的所述n型掺杂化合物可以通过引入包括Al3+、Ga3+、In3+、Ge4+、Sn4+、Ti4+、Zr4+、Hf4+、V5+、Nb5+、Ta5+、Sb5+、Mo6+和W6+的一个或多个类型的阳离子来获得。
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