[实用新型]新型衬底、外延片及半导体器件有效

专利信息
申请号: 201120374035.3 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN202332856U 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 顾昱;钟旻远;林志鑫;陈斌 申请(专利权)人: 上海晶盟硅材料有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/04
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 李强
地址: 201707 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种新型衬底,包括衬底本体,其特征在于,在衬底本体表面设置有单晶硅层。使用本实用新型中的新型衬底生产的外延层,其电阻率均匀性可以做到<1.5%。相比于未使用本实用新型的新型衬底生产的外延层,本实用新型中的外延层电阻率均匀性数值可降低1个百分点。使用本实用新型中的新型衬底,可降低后续生产成本,提高产品品质。
搜索关键词: 新型 衬底 外延 半导体器件
【主权项】:
新型衬底,包括衬底本体,其特征在于,在衬底本体表面设置有单晶硅层。
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