[实用新型]激光脉冲测距技术中测试信号往返时间的电路结构有效
| 申请号： | 201120217179.8 | 申请日： | 2011-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN202093171U | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 王泽宽;黄希睿;刘小成 | 申请（专利权）人： | 成都可为科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 谭新民;梁田 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种激光脉冲测距技术中测试信号往返时间的电路结构，包括脉冲输入线路、非门、D触发器及反射脉冲输入线路，非门的信号输入端与脉冲输入线路连接，D触发器包括D管脚、CLK管脚及Q管脚，D管脚与非门的信号输出端连接，CLK管脚与反射脉冲输入线路连接。本实用新型采用上述结构，整体结构简单，便于实现，且本实用新型用于测试间距时，其受脉冲幅度和信噪比的影响小。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 脉冲 测距 技术 测试 信号 往返 时间 电路 结构 | ||
【主权项】：
激光脉冲测距技术中测试信号往返时间的电路结构，其特征在于：包括脉冲输入线路、非门、D触发器及反射脉冲输入线路，所述非门的信号输入端与脉冲输入线路连接，所述D触发器包括D管脚、CLK管脚及Q管脚，所述D管脚与非门的信号输出端连接，所述CLK管脚与反射脉冲输入线路连接。
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