[发明专利]一种光谱分析仪和光谱分析方法有效
| 申请号： | 201110461548.2 | 申请日： | 2011-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102564591A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 俞晓峰;顾海涛;吕全超;李萍;俞大海;王健 | 申请（专利权）人： | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光谱分析仪，包括：光源，所述光源发出测量光；光采集单元，所述光采集单元将测量光耦合至分光单元；分光单元，所述分光单元包括第一分光模块和第二分光模块，测量光经所述第一分光模块X方向分光后被所述第二分光模块进行相同方向的分光；成像单元和探测单元，所述测量光经过所述第二分光模块分光后再被成像单元成像后被探测单元接收；处理单元，所述处理单元处理探测单元接收到的信号，得到窄波段对应的谱图。本发明还提供了一种光谱分析方法。本发明具有窄波段光谱分辨率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种光谱分析仪，包括：光源，所述光源发出测量光；光采集单元，所述光采集单元将测量光耦合至分光单元；分光单元，所述分光单元包括第一分光模块和第二分光模块，测量光经所述第一分光模块X方向分光后被所述第二分光模块进行相同方向的分光；成像单元和探测单元，所述测量光经过所述第二分光模块分光后再被成像单元成像后被探测单元接收；处理单元，所述处理单元处理探测单元接收到的信号，得到窄波段对应的谱图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于聚光科技(杭州)股份有限公司，未经聚光科技(杭州)股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110461548.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：偏振分光棱镜镀膜面角度测量装置和测量方法
- 下一篇：化学回热循环燃气轮机
