[发明专利]一种带有DP接口的液晶模组测试装置及测试方法

摘要

一种带有DP接口的液晶模组测试装置及测试方法，涉及液晶模组的测试领域，包括电源处理单元、现场可编程门阵列信号处理单元、CPU控制单元，电源处理单元和现场可编程门阵列信号处理单元连接一个液晶模组测试接口，液晶模组测试接口连接待测液晶模组，电源处理单元包括电源处理模块和LED驱动模块，CPU控制单元、现场可编程门阵列信号处理单元均连接一个向待测液晶模组输出信号的DP编码模块，现场可编程门阵列信号处理单元包括内建信号模块、低压差分信号解码模块、以及低压差分信号编码模块。所述测试装置及测试方法同时提供LVDS接口和DP接口，同时支持外部输入测试信号和内建测试信号，提供LED背光驱动输出。

主权项

一种带有DP接口的液晶模组测试装置，包括电源处理单元(1)、现场可编程门阵列信号处理单元(2)、CPU控制单元(3)，电源处理单元(1)和现场可编程门阵列信号处理单元(2)共同连接一个液晶模组测试接口(5)，液晶模组测试接口(5)连接待测液晶模组，其特征在于：电源处理单元(1)包括与CPU控制单元(3)相连的电源处理模块(11)和输出至液晶模组测试接口(5)的LED驱动模块(13)，CPU控制单元(3)、现场可编程门阵列信号处理单元(2)共同连接一个向待测液晶模组输出信号的DP编码模块(4)，现场可编程门阵列信号处理单元(2)包括与CPU控制单元(3)相连的内建信号模块(23)、接收外部测试信号的低压差分信号解码模块(21)、以及向待测液晶模组输出信号的低压差分信号编码模块(28)；所述现场可编程门阵列信号处理单元(2)还包括与低压差分信号解码模块(21)相连的输入缓存模块(22)、与内建信号模块(23)相连的内建信号缓存模块(24)、与输入缓存模块(22)和内建信号缓存模块(24)均相连的侦测模块(25)，CPU控制单元(3)发送图形信息至内建信号模块(23)产生内建测试信号，低压差分信号解码模块(21)对接收的外部测试信号进行解码，经输入缓存模块(22)缓存，由侦测模块(25)对输入缓存模块(22)和内建信号缓存模块(24)进行侦测处理；所述现场可编程门阵列信号处理单元(2)还包括相连的信号交换模块(26)和信号处理模块(27)，输入缓存模块(22)、内建信号缓存模块(24)和侦测模块(25)均连接信号交换模块(26)，信号处理模块(27)分别连接低压差分信号编码模块(28)和DP编码模块(4)，信号交换模块(26)自动对测试信号进行切换，并送至信号 处理模块(27)进行处理，低压差分信号编码模块(28)和DP编码模块(4)对信号处理模块(27)的信号进行编码，输出至液晶模组测试接口(5)。