[发明专利]一种带有DP接口的液晶模组测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种带有DP接口的液晶模组测试装置，包括电源处理单元 (1)、现场可编程门阵列信号处理单元(2)、CPU控制单元(3)， 电源处理单元(1)和现场可编程门阵列信号处理单元(2)共同连接 一个液晶模组测试接口(5)，液晶模组测试接口(5)连接待测液晶 模组，其特征在于：电源处理单元(1)包括与CPU控制单元(3) 相连的电源处理模块(11)和输出至液晶模组测试接口(5)的LED 驱动模块(13)，CPU控制单元(3)、现场可编程门阵列信号处理单 元(2)共同连接一个向待测液晶模组输出信号的DP编码模块(4)， 现场可编程门阵列信号处理单元(2)包括与CPU控制单元(3)相 连的内建信号模块(23)、接收外部测试信号的低压差分信号解码模 块(21)、以及向待测液晶模组输出信号的低压差分信号编码模块(28)；

所述现场可编程门阵列信号处理单元(2)还包括与低压差分信 号解码模块(21)相连的输入缓存模块(22)、与内建信号模块(23) 相连的内建信号缓存模块(24)、与输入缓存模块(22)和内建信号 缓存模块(24)均相连的侦测模块(25)，CPU控制单元(3)发送 图形信息至内建信号模块(23)产生内建测试信号，低压差分信号解 码模块(21)对接收的外部测试信号进行解码，经输入缓存模块(22) 缓存，由侦测模块(25)对输入缓存模块(22)和内建信号缓存模块 (24)进行侦测处理；

所述现场可编程门阵列信号处理单元(2)还包括相连的信号交 换模块(26)和信号处理模块(27)，输入缓存模块(22)、内建信号 缓存模块(24)和侦测模块(25)均连接信号交换模块(26)，信号 处理模块(27)分别连接低压差分信号编码模块(28)和DP编码模 块(4)，信号交换模块(26)自动对测试信号进行切换，并送至信号 处理模块(27)进行处理，低压差分信号编码模块(28)和DP编码 模块(4)对信号处理模块(27)的信号进行编码，输出至液晶模组 测试接口(5)。

2.如权利要求1所述的带有DP接口的液晶模组测试装置，其 特征在于：所述电源处理单元(1)还包括液晶模组电源模块(12) 和用来供电的装置供电模块(14)，电源处理模块(11)调节测试所 需电源，经液晶模组电源模块(12)和LED驱动模块(13)处理后 输出给液晶模组测试接口(5)。

3.如权利要求1所述的带有DP接口的液晶模组测试装置，其 特征在于：所述CPU控制单元(3)包括依次相连的图片信号处理模 块(31)、CPU模块(32)、模组信息读写模块(33)和人机接口(34)， CPU模块(32)在上电时对整个系统进行初始化，读取待测液晶模 组的参数信息，图片信号处理模块(31)连接所述内建信号模块(23)， 模组信息读写模块(33)连接DP编码模块(4)，对待测液晶模组信 息进行写入和比对。

4.如权利要求1所述的带有DP接口的液晶模组测试装置，其 特征在于：所述CPU控制单元(3)中包括图片信号处理模块(31)， 图片信号处理模块(31)处理图形信息，发于内建信号模块(23)根 据待测液晶模组时序信息产生内建测试信号。