[发明专利]一种带有DP接口的液晶模组测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶模组的测试领域，具体来讲是一种带有DP接口 的液晶模组测试装置及测试方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)包含LED(Light  Emitting Diode，发光二极管)背光液晶显示器和CCFL(Cold Cathode  Fluorescent Lamp，冷阴极萤光灯管)背光液晶显示器。LCD，特别 是LED背光液晶显示器具有轻薄、耗电低、辐射小、屏幕无闪烁、 色彩丰富等诸多优点，随着其技术日趋成熟，主流产品性能优良，LED 背光液晶显示器占据了越来越多的市场分额。LCD的主要组件是液 晶模组(LCD Module)，液晶模组内部互联信号采用LVDS (Low-Voltage Differential Signaling，低压差分信号)或DP (DisplayPort，显示接口)接口方式。DP接口在传输视频信号的同 时加入对高清音频信号传输的支持，同时支持更高的分辨率和刷新 率，可以直接驱动面板，节省大量的电路费用和空间。

液晶模组生产时需要进行严格的测试检验，采用的检验仪器为液 晶模组测试装置。由于DP接口的逐步规模化应用，对测试装置提出 了新的需求，需要同时支持目前普遍应用的LVDS接口和逐步规模化 应用的DP接口，同时随着平板生产制造商产品流水线的机械化程度 越来越高，对液晶模组性能测试设备的要求也越来越高。

目前在对液晶模组性能测试的过程中，通常需要根据不同的液晶 模组切换不同的接口信号类型，同时根据应用场合需要切换外部输入 测试信号源和内建测试信号源。然而传统液晶模组测试设备由于设计 架构复杂度和专用芯片使用的限制，功能单一，只能支持LVDS接口， 不能同时支持LVDS接口和DP接口，也不能同时支持外部输入测试 信号源和内建测试信号源，传统液晶模组测试装置没有内置液晶模组 LED背光驱动，或者需要外加新的设备实现接口的转换，这类装置 不仅接线、操作复杂，应用场合单一；还可能导致新的设备投入，大 大降低了测试以及生产的效率，增加了测试成本，且不利于对液晶模 组进行可靠的自动化测试及快速转产。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种带有 DP接口的液晶模组测试装置及测试方法，能够同时提供LVDS接口 和DP接口，同时支持外部输入测试信号和内建测试信号，并且能够 快速自动切换；提供LED背光驱动输出，液晶模组测试装置集成度 高，节约测试成本，操作简单，提升测试效率和测试可靠度，提升企 业的生产效率及产品合格率。

为达到以上目的，本发明提供一种带有DP接口的液晶模组测试 装置，包括电源处理单元、现场可编程门阵列信号处理单元、CPU 控制单元，电源处理单元和现场可编程门阵列信号处理单元共同连接 一个液晶模组测试接口，液晶模组测试接口连接待测液晶模组，电源 处理单元包括与CPU控制单元相连的电源处理模块和输出至液晶模 组测试接口的LED驱动模块，CPU控制单元、现场可编程门阵列信 号处理单元共同连接一个向待测液晶模组输出信号的DP编码模块， 现场可编程门阵列信号处理单元包括与CPU控制单元相连的内建信 号模块、接收外部测试信号的低压差分信号解码模块、以及向待测液 晶模组输出信号的低压差分信号编码模块。

在上述技术方案的基础上，所述电源处理单元还包括液晶模组电 源模块和用来供电的装置供电模块，电源处理模块调节测试所需电 源，经液晶模组电源模块和LED驱动模块处理后输出给液晶模组测 试接口。

在上述技术方案的基础上，所述CPU控制单元包括依次相连的 图片信号处理模块、CPU模块、模组信息读写模块和人机接口，CPU 模块在上电时对整个系统进行初始化，读取待测液晶模组的参数信 息，图片信号处理模块连接所述内建信号模块，模组信息读写模块连 接DP编码模块，对待测液晶模组信息进行写入和比对。

在上述技术方案的基础上，所述人机接口连接外部计算机或控制 端。