[发明专利]一种聚光倍率测试装置无效
| 申请号： | 201110451178.4 | 申请日： | 2011-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN103175675A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 梁培;董前民;邹世碧;陈志明;黄杰 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种聚光倍率测试装置，包括：光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池、信号采集系统、信号处理系统、步进电机、导轨、底座等。导轨，步进电机位于底座上，光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池位于导轨上，步进电机通过导轨调节聚光透镜和硅光电池水平位置，硅光电池与信号采集系统连接，信号采集系统与信号处理系统连接。该装置由光源发出光束，通过斩波器、扩束系统、聚光透镜、硅光电池扫描采集信号并转变为电信号输出到信号采集系统，通过信号采集系统将信号传送到信号处理系统，由信号处理系统处理数据，经PC机输出结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 聚光 倍率 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种聚光倍率测试装置，其特征在于该装置包括：光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池、信号采集系统、信号处理系统、步进电机、导轨、底座等，导轨，步进电机位于底座上，光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池位于导轨上，步进电机通过导轨调节聚光透镜和硅光电池水平位置，硅光电池与信号采集系统连接，信号采集系统与信号处理系统连接。
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