[发明专利]一种聚光倍率测试装置无效

专利信息
申请号: 201110451178.4 申请日: 2011-12-22
公开(公告)号: CN103175675A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 梁培;董前民;邹世碧;陈志明;黄杰 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 聚光 倍率 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试装置,尤其涉及一种透镜聚光性能测试装置。

背景技术

太阳能利用主要基于光伏效应和光热效应,目前,太阳能光伏效应被广泛应用于太阳能发电,而对于太阳能光伏系统,其中聚光系统的使用能够大大提高太阳能的利用率。人们对聚光系统的性能要求越来越高,对聚光系统光学、电学等性能的测试显得尤为重要。传统的聚光倍率测试方法主要采用比较聚光前后光斑的大小来确定,但这种方法有两个难点,其一是准平行光的夹角仅为0.2°,难以模拟,光源系统难以获得;其二是光斑的大小受诸多因素的影响,最重要的有激光模式、衍射和球差,因此准确判定光斑大小难度高。

发明内容

本发明的目的是提供一种以能量的方法来测试聚光倍率的装置,即将聚光前后的光强信号转换成电信号来比较获得聚光倍率,该装置结构简单、测试方便,在室内便可对聚光系统的聚光倍率进行测试。

本发明解决问题的技术方案为:一种聚光倍率测试装置,其特征在于该装置包括:光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池、信号采集系统、信号处理系统、步进电机、导轨、底座等,导轨,步进电机位于底座上,光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池位于导轨上,步进电机通过导轨调节聚光透镜和硅光电池水平位置,硅光电池与信号采集系统连接,信号采集系统与信号处理系统连接。

所述的光源采用是激光光源或白光LED光源,可模拟太阳光。

所述的扩束系统使用二级扩束,得到焦斑直径较大的平行光,以测试不同聚光倍率的聚光镜。

所述的光源、扩束系统、斩波器、聚光透镜、硅光电池可根据需要调节方向、位置,可拆卸。

所述的信号采集系统由硅光电池,NI数据采集卡构成,硅光电池采集光强信号并转变成电信号输出到NI数据采集卡,NI数据采集卡将信号传送到信号处理系统。

所述的信号处理系统采用LabVIEW程序语言编程处理数据。首先将采集得到的信号进行放大和窗口函数滤波处理,再通过计算聚光前后的电流信号数值大小,输出实时聚光倍数测量值。

图1是该聚光倍率测试装置的系统框图。

图2是该聚光倍率测试装置的结构示意图。图中1为光源,2为斩波器,3为扩束系统,4为聚光透镜,51、52为硅光电池,6为底座,7为水平导轨,8为垂直导轨,9为垂直导轨,101、102为步进电机,11为数据采集线。

图3是该聚光倍率测试装置中信号采集系统的构成框图。

图4是该聚光倍率测试装置的底座几何关系示意图。图中1为光源,2为斩波器,3为扩束系统,4为聚光透镜,51、52为硅光电池。

图5是该聚光倍率测试装置中聚光透镜和硅光电池52的控制电路。图中P1、P2为步进电机驱动,U1、U2分别为P1、P2的控制电路,S1、S2、S3、S4、S5为开关。

图6是该聚光倍率测试装置中扩束系统的结构原理图。

图7是该聚光倍率测试装置中信号处理系统中采集数据示意图,图7a为聚光后光强信号采集过程,图7b为采集得到的矩阵数据。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步的说明。

图1中,光源发出光束,连续光束通过斩波器形成脉冲光束,通过扩束系统得到焦斑直径较大的平行光,脉冲光束经过聚光透镜,硅光电池扫描,采集信号转变为电信号输出到NI数据采集卡,聚光透镜每在轨道上滑动一个扫描点,硅光电池匀速滑动过整个轨道,由单片机控制的两个步进电机控制其运动,按照预定的采样频率采集信号,直到聚光透镜逐点滑动过整个轨道后,通过NI数据采集卡将采集到的电信号传送到PC,得到聚光后光强信号。信号处理系统Labview通过将电信号进行放大、滤波,将聚光前后电信号强度进行比较,显示输出实时测试结果,得到聚光透镜的聚光倍率。信号处理系统Labview通过将电信号进行放大、滤波,将聚光前后电信号强度进行比较,显示输出实时测试结果,得到聚光透镜的聚光倍率。

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