[发明专利]用于探测电磁辐射的装置有效

专利信息
申请号: 201110445398.6 申请日: 2011-10-26
公开(公告)号: CN102565551A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: J-L·奥夫里尔-巴菲特;J·迈兰 申请(专利权)人: 原子能和代替能源委员会
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01K7/22
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明公开了一种用于探测电磁辐射的装置,其包括主动辐射热测量计(7)以及与主动辐射热测量计(7)相同的参考辐射热测量计(10),主动辐射热测量计(7)具有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12),参考辐射热测量计(10)具有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13)。主动辐射热测量计(7)和参考辐射热测量计(10)彼此靠近地排布在同一基板(14)上。盖(15)至少覆盖第二敏感元件(13)的暴露于电磁辐射(8)的部分并在所述第二敏感元件(13)和该盖(15)之间形成中空空间。盖(15)的内壁(17)由吸收层构成,吸收层由至少吸收第二敏感元件(13)发射的热辐射的材料制成。反射罩形成暴露于所述电磁辐射(8)的外壁(16)的至少一部分。
搜索关键词: 用于 探测 电磁辐射 装置
【主权项】:
一种用于探测电磁辐射的装置,包括位于单个基板(14)上的:‑主动辐射热测量计(7),装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12),‑参考辐射热测量计(10),与主动辐射热测量计(7)相同,装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13),‑盖(15),具有外壁(16)和面向第二敏感元件(13)的内壁(17),所述盖(15)至少覆盖所述第二敏感元件(13)的暴露于所述电磁辐射(8)的部分并布置有分离所述第二敏感元件(13)和所述内壁(17)的中空空间,以及,‑反射罩(18),形成暴露于所述电磁辐射(8)的所述外壁(16)的至少一部分,装置的特征在于,所述盖(15)的所述内壁(17)由吸收层(20)构成,所述吸收层(20)由至少吸收所述第二敏感元件(13)发射的热辐射的材料制成。
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