[发明专利]用于探测电磁辐射的装置有效

专利信息
申请号: 201110445398.6 申请日: 2011-10-26
公开(公告)号: CN102565551A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: J-L·奥夫里尔-巴菲特;J·迈兰 申请(专利权)人: 原子能和代替能源委员会
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01K7/22
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 探测 电磁辐射 装置
【权利要求书】:

1.一种用于探测电磁辐射的装置,包括位于单个基板(14)上的:

-主动辐射热测量计(7),装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12),

-参考辐射热测量计(10),与主动辐射热测量计(7)相同,装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13),

-盖(15),具有外壁(16)和面向第二敏感元件(13)的内壁(17),所述盖(15)至少覆盖所述第二敏感元件(13)的暴露于所述电磁辐射(8)的部分并布置有分离所述第二敏感元件(13)和所述内壁(17)的中空空间,以及,

-反射罩(18),形成暴露于所述电磁辐射(8)的所述外壁(16)的至少一部分,

装置的特征在于,所述盖(15)的所述内壁(17)由吸收层(20)构成,所述吸收层(20)由至少吸收所述第二敏感元件(13)发射的热辐射的材料制成。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述盖(15)完全包封所述第二敏感元件(13)。

3.根据权利要求1和2之一所述的装置,其特征在于,所述盖(15)压在所述基板(14)上。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述盖(15)与所述基板(14)形成容纳有所述参考辐射热测量计(10)的封闭腔(19)。

5.根据权利要求1和2之一所述的装置,其特征在于,所述参考辐射热测量计(10)具有包括锚固点(6)的绝热微桥结构,且所述盖(15)压在至少两个所述锚固点(6)上。

6.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)是多层的。

7.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种选自黑金、铂、银和铬的多孔金属吸收材料形成。

8.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种包含石墨的聚合物材料形成。

9.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种选自氮化钛和镍铬合金的电阻性吸收材料形成。

10.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述盖(15)包括置于所述吸收层(20)和所述反射罩(18)之间的支撑层(30),并且所述主动辐射热测量计(7)被膜盒(29)包封,所述支撑层(30)由对所述参考辐射热测量计(10)发射的所述电磁辐射透明的材料构成。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述支撑层(30)的所述透明材料选自单晶硅、多晶硅、非晶硅、单晶锗、多晶锗以及硅锗合金。

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