[发明专利]用于探测电磁辐射的装置有效
申请号: | 201110445398.6 | 申请日: | 2011-10-26 |
公开(公告)号: | CN102565551A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | J-L·奥夫里尔-巴菲特;J·迈兰 | 申请(专利权)人: | 原子能和代替能源委员会 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01K7/22 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 电磁辐射 装置 | ||
1.一种用于探测电磁辐射的装置,包括位于单个基板(14)上的:
-主动辐射热测量计(7),装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12),
-参考辐射热测量计(10),与主动辐射热测量计(7)相同,装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13),
-盖(15),具有外壁(16)和面向第二敏感元件(13)的内壁(17),所述盖(15)至少覆盖所述第二敏感元件(13)的暴露于所述电磁辐射(8)的部分并布置有分离所述第二敏感元件(13)和所述内壁(17)的中空空间,以及,
-反射罩(18),形成暴露于所述电磁辐射(8)的所述外壁(16)的至少一部分,
装置的特征在于,所述盖(15)的所述内壁(17)由吸收层(20)构成,所述吸收层(20)由至少吸收所述第二敏感元件(13)发射的热辐射的材料制成。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述盖(15)完全包封所述第二敏感元件(13)。
3.根据权利要求1和2之一所述的装置,其特征在于,所述盖(15)压在所述基板(14)上。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述盖(15)与所述基板(14)形成容纳有所述参考辐射热测量计(10)的封闭腔(19)。
5.根据权利要求1和2之一所述的装置,其特征在于,所述参考辐射热测量计(10)具有包括锚固点(6)的绝热微桥结构,且所述盖(15)压在至少两个所述锚固点(6)上。
6.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)是多层的。
7.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种选自黑金、铂、银和铬的多孔金属吸收材料形成。
8.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种包含石墨的聚合物材料形成。
9.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述吸收层(20)由至少一种选自氮化钛和镍铬合金的电阻性吸收材料形成。
10.根据权利要求1、2或3任一所述的装置,其特征在于,所述盖(15)包括置于所述吸收层(20)和所述反射罩(18)之间的支撑层(30),并且所述主动辐射热测量计(7)被膜盒(29)包封,所述支撑层(30)由对所述参考辐射热测量计(10)发射的所述电磁辐射透明的材料构成。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述支撑层(30)的所述透明材料选自单晶硅、多晶硅、非晶硅、单晶锗、多晶锗以及硅锗合金。
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