[发明专利]托架、使用该托架的测试设备和测试方法无效
| 申请号： | 201110433108.6 | 申请日： | 2011-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN102540107A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 刘哲准;宋永僖;黄圣德 | 申请（专利权）人： | 三星LED株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44;G01R1/04;G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩芳 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种托架、利用该托架的测试设备和测试方法。所述测试设备包括：托架，具有容纳在其中的多个光源，当向所述多个光源施加功率时，所述多个光源输出光；多个光接收单元，布置为与多个光源对应并且接收从多个光源中的每个输出的光；多个探针单元，布置与多个光源对应并且向多个光源中的每个施加功率；电源控制单元，选择性地控制向多个探针单元施加的功率；光学性质分析单元，分析来自于光接收单元接收的光的光信号的性质。 | ||
| 搜索关键词： | 托架 使用 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种测试设备，所述测试设备包括：托架，具有容纳在其中的多个光源，当向所述多个光源施加功率时，所述多个光源输出光；多个光接收单元，布置为与所述多个光源对应并且接收从所述多个光源中的每个输出的光；多个探针单元，布置与所述多个光源对应并且向所述多个光源中的每个施加功率；电源控制单元，选择性地控制向所述多个探针单元施加的功率；光学性质分析单元，分析来自于光接收单元接收的光的光信号的性质。
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