[发明专利]托架、使用该托架的测试设备和测试方法

权利要求书

1.一种测试设备，所述测试设备包括：

托架，具有容纳在其中的多个光源，当向所述多个光源施加功率时，所述多个光源输出光；

多个光接收单元，布置为与所述多个光源对应并且接收从所述多个光源中的每个输出的光；

多个探针单元，布置与所述多个光源对应并且向所述多个光源中的每个施加功率；

电源控制单元，选择性地控制向所述多个探针单元施加的功率；

光学性质分析单元，分析来自于光接收单元接收的光的光信号的性质。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述电源控制单元控制功率，使得功率在不同的时间区间被施加到所述多个光源中的每个。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述光学性质分析单元通过接收光的时间区间来区分并识别对应的光源。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述探针单元和所述光接收单元是集成的。

5.根据权利要求1所述的测试设备，所述测试设备还包括分类单元，所述分类单元基于所述光学性质分析单元的分析结果区分并布置所述多个光源。

6.根据权利要求1所述的测试设备，所述测试设备还包括积分球，所述积分球收集从光接收单元接收的光，以将收集的光引导到光学性质分析单元。

7.根据权利要求6所述的测试设备，其中，从光接收单元收集的光被引导到所述积分球。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其中，光接收单元包括：反射部分，与每个光源的上表面上的至少部分区域接触，以将从光源发射的光向上反射；光纤部分，引导从所述反射部分反射的光。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其中，所述反射部分由光纤形成并且与所述光纤部分成为一体的。

10.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述探针单元与光源接触以向光源施加功率。

11.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述托架包括与容纳的光源对应并且电连接到光源的导电连接部分。

12.根据权利要求11所述的测试设备，其中，探针单元与导电连接部分接触，以向光源施加功率。

13.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述托架包括通孔，所述通孔沿着托架的厚度方向穿过设置有容纳在托架中的光源的区域的至少一部分。

14.根据权利要求13所述的测试设备，其中，探针单元与光源接触，以通过所述通孔向光源施加功率。

15.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述光源为发光二极管封装件。

16.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述光源为发光二极管封装件安装在电路板上的发光二极管封装件模块。

17.一种测试方法，所述方法包括：

将一个或多个光源容纳在托架中；

将与光源对应布置的探针单元电连接到光源；

通过探针单元向光源施加功率；

通过被布置为与光源对应的光接收单元从光源接收光信号；

分析接收的光信号的性质。

18.根据权利要求17所述的测试方法，所述测试方法还包括根据光学性质分析单元的分析结果通过区分和布置光源将光源分类。

19.根据权利要求17所述的测试方法，其中，在向光源施加功率的过程中，在不同的时间区间向所述一个或多个光源中的每个施加功率。

20.根据权利要求19所述的测试方法，其中，向所述一个或多个光源中的每个施加功率的时间区间是连续并且连贯的。

21.根据权利要求17所述的测试方法，其中，在接收光信号的过程中，通过接收每个光信号的时间区间区分并识别对应的光源。

22.一种托架，所述托架包括：

主体；

容纳部分，形成为从所述主体的表面向内凹进并且其中容纳至少一个半导体封装件；

通孔，形成为在所述容纳部分的一部分区域在所述主体的厚度方向上穿过所述主体，并且向所述主体的其它表面暴露半导体封装件的至少一部分。