[发明专利]一种可获得三基色光的发光二极管结构无效
申请号: | 201110419492.4 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN103165776A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 刘刚;吴东海;李志翔 | 申请(专利权)人: | 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/32 |
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地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种可获得三基色光的发光二极管结构,涉及光电技术领域。本发明包括位于底部的蓝宝石衬底、形成于蓝宝石衬底上的金属氮化物缓冲层和置于顶部的P型半导体层。其结构特点是,所述金属氮化物缓冲层上依次置有异变InGaN缓冲层和InGaN有源层。异变InGaN缓冲层中的In组分含量随着材料外延生长参数的改变呈线性增加,InGaN缓冲层的厚度范围为0.1~100μm,In组分含量从0线性增加至x,组分x的取值范围为0<x<1。同现有技术相比,本发明通过组分渐变结构的异变InGaN缓冲层,改善发光半导体装置有源层的结晶质量,获得整个可见光波段的出射光。 | ||
搜索关键词: | 一种 可获得 基色 发光二极管 结构 | ||
【主权项】:
一种可获得三基色光的发光二极管结构,它包括位于底部的蓝宝石衬底(200)、形成于蓝宝石衬底(200)上的金属氮化物缓冲层(210)和置于顶部的P型半导体层(240),其特征在于,所述金属氮化物缓冲层(210)上依次置有异变InGaN缓冲层(221)和InGaN有源层(230),异变InGaN缓冲层(221)中的In组分含量随着材料外延生长参数的改变呈线性增加,InGaN缓冲层(221)的厚度范围为0.1~100μm,In组分含量从0线性增加至x,组分x的取值范围为0<x<1。
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