[发明专利]冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构

摘要

本发明是有关于一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其下盖主要包括出气孔、气路腔体、下盖固定孔、进气孔，出气孔均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室，测量头下盖设有一个进气孔，下盖固定孔将下盖固定在测量头的窗口上。该下盖外周缘处设有八个出气孔。在C型架上臂测量头中增加了一套空气吹扫系统，通过这套系统，将空气吹过测量头，通过测量头下盖的八个孔，将窗口膜表面的油污和水雾吹扫干净，保证窗口膜表面干净，从而保证测厚仪测量的精度。

主权项

一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其特征在于：该下盖主要包括出气孔(1)、气路腔体(2)、下盖固定孔(4)、进气孔(5)，出气孔(1)均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室(2)，测量头下盖设有一个进气孔(5)，下盖固定孔(4)将下盖固定在测量头的窗口上。