[发明专利]冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构无效
申请号: | 201110405546.1 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN103157673A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 吉爱国 | 申请(专利权)人: | 洛阳瑞清科技有限公司 |
主分类号: | B21B38/04 | 分类号: | B21B38/04 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 471039 河南省洛阳*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 冷轧 射线 测厚仪 测量 头下盖 结构 | ||
1.一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构,其特征在于:该下盖主要包括出气孔(1)、气路腔体(2)、下盖固定孔(4)、进气孔(5),出气孔(1)均匀地设置在下盖的外周缘处,该下盖为中空结构,形成气路腔室(2),测量头下盖设有一个进气孔(5),下盖固定孔(4)将下盖固定在测量头的窗口上。
2.根据权利要求1所述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构,其特征在于所述的下盖外周缘处设有八个出气孔(1)。
3.根据权利要求1所述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构,其特征在于所述的进气孔(5)与下盖的中心轴线为45°
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