[发明专利]一种基于标准CMOS工艺的集成定向耦合器有效

专利信息
申请号: 201110399962.5 申请日: 2011-12-05
公开(公告)号: CN103138037A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 叶乐;汪佳逸;廖怀林;黄如 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01P5/18 分类号: H01P5/18
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人: 余长江
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于标准CMOS工艺的集成定向耦合器。该集成定向耦合器包括:第一层线圈,两端分别为输入端和直通端,其间设有可调电容阵列,用于频率调谐;第二层线圈,两端分别为耦合端和隔离端,其间设有可调电容阵列,用于隔离度调谐。两层线圈均为同心多圈结构,相邻两圈的交叉部分跨接。第一层线圈的金属线中心正对所述第二层线圈的金属线间距中心,呈立体结构。所述直通端和所述耦合端的空间距离小于所述输入端和所述隔离端的空间距离。该集成定向耦合器可在硅基CMOS/BiCMOS工艺上单芯片集成,具有插入损耗小、隔离度大、定向性好、调谐性强、适用性强、成本低的特点。
搜索关键词: 一种 基于 标准 cmos 工艺 集成 定向耦合器
【主权项】:
一种基于标准CMOS工艺的集成定向耦合器,其特征在于,包括:第一层线圈,为同心多圈结构,相邻两圈的交叉部分跨接,线圈的两端分别作为输入端和直通端;第二层线圈,为同心多圈结构,相邻两圈的交叉部分跨接,线圈的两端分别作为耦合端和隔离端;以及两个可调电容阵列,其一连接所述输入端和所述直通端,另一个连接所述耦合端和所述隔离端;所述第一层线圈的金属线中心正对所述第二层线圈的金属线间距中心;所述直通端和所述耦合端的空间距离小于所述输入端和所述隔离端的空间距离。
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