[发明专利]一种大气中氙的低温富集取样方法和装置有效
| 申请号： | 201110384244.0 | 申请日： | 2011-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN102508285A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 武山;张昌云;陈莉云;王亚龙;刘龙波;万可友 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T7/02 | 分类号： | G01T7/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 71002*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种大气中氙的低温富集取样方法和装置，其在低温条件下将空气中的氙富集，共使用4级吸附柱实现氙的富集浓缩并同时去除其它杂质，吸附剂仅使用活性炭一种，降低了方法的复杂性和实现难度，没有时间空窗；能连续取样，结构简单，方法简便，取样量大。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 大气 低温 富集 取样 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种大气中氙的低温富集取样方法，其特征在于：包括以下步骤：1】低温吸附高温脱附：采用第一级活性炭吸附脱附单元在低温下浓缩空气中的氙并去除其它杂质，吸附温度为‑70～‑40℃，脱附温度为50～200℃；2】三级常温吸附高温脱附：采用三只级联的活性炭吸附脱附单元在常温下逐级浓缩空气中的氙并去除其它杂质，吸附温度为10～30℃，脱附温度为50～200℃；3】样品收集：最后一级吸附柱脱附出来的氙经隔膜增压至样品瓶，完成收集。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110384244.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种连接器线缆压线治具
- 下一篇：一种干衣冷凝用热交换器及干衣机
