[发明专利]一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法有效
申请号: | 201110370372.X | 申请日: | 2011-11-20 |
公开(公告)号: | CN102425988A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 赵文川;吴永前;吴高峰;侯溪;万勇建;范斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02;G01J9/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法。相位测量误差具有正弦性周期性分布,而三角函数每相隔π时,其幅值正负相反,即误差分布反相。这样,可对基础算法进行扩展,将多组测量中的反正切公式中分子、分母分别进行叠加平均,利用误差相位分布反相相互抵消来减小误差。在此思想下,可递推推导出多种适合不同情况的平均补偿算法。该算法尤其是对相移误差不敏感,能显著地提高相位测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 相干 条纹 相位 提取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法,其特征在于实现步骤如下:(1)确定基本的相移算法根据干涉仪相移步数J及步长α确定基本的相移算法,所述相移算法包括三步算法、四步算法、五步算法;(2)从干涉仪提取得到J步相移干涉条纹图,所述干涉图条纹图的光强分布为:Ij(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos[φ(x,y)+αj]其中,A(x,y)为干涉场背景光强分布;B(x,y)为干涉条纹光强变化的幅值;
为被测波前的相位分布,包含了物体的三维信息;αj为第j步的相移步长,j=1,2,3,...,J;(3)根据基本相移算法对步骤(2)得到的干涉条纹图进行分组,设分为K组,对每一组来说,相位分布表示为该组干涉条纹图的组合,设第k组中包括干涉条纹图共M幅,则相位计算公式为:
其中,k=1,2,...K,m=1,2,...M,b m、cm分别为分子、分母对应的Im系数,其值由基本相移算法确定,Nk、Dk分别表示该组的分子与分母组合,![]()
D k = Σ m c m I m ; ]]> (4)将步骤(3)中的反正切公式中分子、分母分别进行叠加平均,得到J步平均补偿算法,根据J步平均补偿算法即得到相位分布![]()
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