[发明专利]一种可自校准内部晶振的芯片、校准系统及校准方法

摘要

本发明公开了一种可自校准内部晶振的芯片以及一种晶振校准测试系统，还公开了基于该系统晶振的校准方法，内部待校准晶振3输出的信号与外部参考精准信号在比较模块(4)中进行比较，比较结果输出到测试处理模块1中进行处理，测试处理模块(1)根据比较的结果产生晶振的校准值输出到校准寄存器(2)中保存，待校准晶振(3)根据校准寄存器(2)中的校准值校准输出时钟信号，实现芯片内部晶振的校准。

主权项

一种可自校准内部晶振的芯片，其特征在于，包括测试处理模块、比较模块、校准寄存器以及待校准的晶振；所述比较模块，用于接收待校准晶振的输出信号与外部参考精准信号并进行比较，把比较结果输入到所述测试处理模块处理；所述测试处理模块，用于接收测试指令，处理所述比较模块输出的数据，产生校准值输出到所述校准寄存器，并在校准结束后输出校准结果；所述校准寄存器，用于接收并保存所述测试处理模块输出的校准值，把所述校准值输入到待校准的晶振；所述待校准的晶振，根据所述校准值自校准晶振。