[发明专利]一种可自校准内部晶振的芯片、校准系统及校准方法

权利要求书

1.一种可自校准内部晶振的芯片，其特征在于，包括测试处理模块、比较模块、校准寄存器以及待校准的晶振；

所述比较模块，用于接收待校准晶振的输出信号与外部参考精准信号并进行比较，把比较结果输入到所述测试处理模块处理；

所述测试处理模块，用于接收测试指令，处理所述比较模块输出的数据，产生校准值输出到所述校准寄存器，并在校准结束后输出校准结果；

所述校准寄存器，用于接收并保存所述测试处理模块输出的校准值，把所述校准值输入到待校准的晶振；

所述待校准的晶振，根据所述校准值自校准晶振。

2.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，比较模块为一计数器，其中所述计数器用于对待校准晶振的输出信号或外部参考精准信号进行计数并把计数结果输出到所述测试处理模块处理。

3.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述比较器模块还包括有一分频器，可以对外部参考精准频率信号或所述待校准晶振输出的频率信号进行分频处理。

4.如权利要求1到3任一项所述的芯片，其特征在于，所述测试处理模块包括有一测试控制器和一校准处理模块；

所述测试控制器，用于控制晶振校准的开始结束，接收外部参考的精准信号，并在校准结束后输出测试结果；

所述校准处理模块，用于根据所述比较模块输出的数据进行处理，产生校准值输出到所述校准寄存器。

5.如权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述的校准处理模块包括有一判断单元和一校准子模块；

所述判断单元，用于判断比较模块输出的数据，把判断结果输出到所述校准子模块处理；

所述校准子模块，用于根据判断单元输出的结果产生相对应的校准值并把校准值输入所述校准寄存器。

6.一种晶振校准测试的系统，其特征在于，包括一中测机台以及权利要求1-5任一项所述的芯片；

其中，所述中测机台与所述芯片的测试处理模块连接，用于发送测试指令，并在测试结束后接收测试结果；

中测机台还与所述芯片的比较模块连接，用于向所述比较模块提供外部参考精准信号。

7.一种基于权利要求6所述系统的可自校准内部晶振芯片的校准方法，

其特征在于，包括以下步骤：

测试处理模块接收中测机台发送的测试命令，开始晶振的自校准测试；

待校准晶振输出信号与外部精准参考信号输入到比较模块中进行比较，所述比较模块把比较结果输出到所述测试处理模块；

所述测试处理模块处理所述比较模块输出的比较结果，根据比较结果返回测试结果或者产生对应的校准值输出到所述寄存器中；

待校准晶振根据校准值的大小改变信号的输出，把改变后的信号输出到所述比较模块再与外部参考精准信号进行比较；

校准完成后，测试处理模块返回测试结果到中测机台。

8.如权利要求7所述的校准方法，其特征在于，测试处理模块处理所述比较模块输出的比较结果，根据比较结果返回测试结果或者产生对应的校准值输出到所述寄存器中的步骤中，如果待校准晶振输出信号与外部参考精准信号相等，测试结束，所述测试处理模块返回测试结果到中测机台；如果待校准晶振输出信号与外部参考精准信号不相等，所述测试处理模块产生一KΔf或-KΔf的校准值输出到校准寄存器，其中K为大于0的整数，Δf为晶振最小可调整值，KΔf表示校准调整的步长。

9.如权利要求7或8所述的校准方法，其特征在于，待校准晶振输出信号与外部参考精准信号输入一计数器中，其中，所述待校准晶振输出信号与所述外部参考精准信号之中任一信号作为计数器的时钟信号输入，另一信号作为计数器的计数输入，计数结果输出到所述测试处理模块处理。

10.如权利要求9所述的校准方法，其特征在于，还可以增加一分频器对所述待校准晶振输出信号或所述外部参考精准信号进行分频处理后再输出到计数器中。