[发明专利]粒子分析仪及其粒子测试控制方法、装置

摘要

本发明公开了一种粒子分析仪及其测试控制方法、装置，该方法包括：在抽取稀释后的样本后保留部分样本，在计数测试过程中监测是否发生堵孔事件；当发生堵孔事件时则控制暂停样本的测试，并执行排堵操作；在排堵操作完成后控制加液系统再次从反应池或加液系统的管道中吸取保留的部分样本并注入计数池，然后重新开始对计数池中的样本再次进行阻抗法计数测试。本发明充分利用样本稀释后剩余的稀释样本进行第二次测试，消除该样本第一次测量时发生的堵孔对测试结果的影响，并且不需要将该样本重新放置到待测试位进行重吸样和重稀释，从而降低了堵孔概率。

主权项

用于粒子分析仪的粒子测试控制方法，其特征在于包括：控制吸样系统对放置在待测试位的样本进行吸样操作；将吸取的样本注入反应池进行稀释；控制加液系统从反应池吸取稀释后的样本并注入计数池，同时控制反应池的排液控制阀继续处于关闭状态，以使剩余的稀释后的样本继续保留在反应池中；对计数池中的样本进行阻抗法计数测试，并在计数测试过程中监测是否发生堵孔事件；当发生堵孔事件时则控制暂停样本的测试，并执行排堵操作；在排堵操作完成后控制加液系统再次从反应池中吸取样本并注入计数池，然后重新开始对计数池中的样本再次进行阻抗法计数测试。