[发明专利]粒子分析仪及其粒子测试控制方法、装置

权利要求书

1.用于粒子分析仪的粒子测试控制方法，其特征在于包括：

控制吸样系统对放置在待测试位的样本进行吸样操作；

将吸取的样本注入反应池进行稀释；

控制加液系统从反应池吸取稀释后的样本并注入计数池，同时控制反应池的排液控制阀继续处于关闭状态，以使剩余的稀释后的样本继续保留在反应池中；

对计数池中的样本进行阻抗法计数测试，并在计数测试过程中监测是否发生堵孔事件；

当发生堵孔事件时则控制暂停样本的测试，并执行排堵操作；

在排堵操作完成后控制加液系统再次从反应池中吸取样本并注入计数池，然后重新开始对计数池中的样本再次进行阻抗法计数测试。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，控制加液系统再次从反应池中吸取样本后输出排空控制信号，控制反应池的排液控制阀切换到打开状态，以排空反应池中剩余的稀释后的样本。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在对计数池中的样本采用阻抗法开始测试后设定时间内监测到堵孔时，则输出堵孔事件。

4.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，如果在设定时间内没有接收到堵孔事件，则输出排空控制信号，控制反应池的排液控制阀切换到打开状态，以排空反应池中剩余的稀释后的样本。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在计数测试过程中监测是否发生堵孔事件包括：

在采用阻抗法开始测试后即开始计时；

在计时过程中对实时检测到的微孔电压进行判断，当判断微孔电压异常时输出堵孔事件；

判断设定时间是否到，若是则输出排空控制信号，否则继续对实时检测到的微孔电压进行判断。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对实时检测到的微孔电压进行判断包括：根据实时检测到的微孔电压的幅度、基线电压和脉冲形态中的任一种或多种的组合判断微孔电压是否异常。

7.用于粒子分析仪的粒子测试控制装置，其特征在于包括：

第一控制单元，用于控制加液系统从反应池吸取稀释后的样本并注入计数池；

第二控制单元，用于在第一控制单元控制加液系统从反应池吸取稀释后的样本后控制反应池的排液控制阀继续处于关闭状态，以使剩余的稀释后的样本继续保留在反应池中；

第三控制单元，用于在样本注入计数池后控制计数池中的样本开始阻抗法计数测试；

堵孔监测单元，用于接收样本进行阻抗法计数测试过程中输出的微孔电压，判断是否发生堵孔，当发生堵孔时则输出堵孔事件；

第四控制单元，耦合到堵孔监测单元，用于根据堵孔事件控制暂停测试，并执行排堵操作，在排堵操作完成后输出控制信号至第一控制单元，使第一控制单元控制加液系统再次从反应池中吸取样本并注入计数池。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一控制单元控制加液系统再次从反应池中吸取样本后控制第二控制单元输出排空控制信号，控制反应池的排液控制阀切换到打开状态，以排空反应池中剩余的稀释后的样本。

9.如权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述粒子测试控制装置还包括定时器，所述定时器分别耦合到第三控制单元和第四控制单元，所述第三控制单元在对计数池中的样本采用阻抗法开始测试后即控制定时器开始计时，所述定时器在计时到达设定时间后输出定时信号至第四控制单元，所述第四控制单元在设定时间内接收到堵孔事件时，则控制暂停样本的测试，并执行排堵操作，在排堵操作完成后输出控制信号至第一控制单元，使第一控制单元控制加液系统再次从反应池中吸取样本并注入计数池。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第四控制单元在设定时间内没有接收到堵孔事件时则控制第二控制单元输出排空控制信号，控制反应池的排液控制阀切换到打开状态，以排空反应池中剩余的稀释后的样本。

11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述在计数测试过程中监测是否发生堵孔事件包括：

在采用阻抗法开始测试后即开始计时；

在计时过程中对实时检测到的微孔电压进行判断，当判断微孔电压异常时输出堵孔事件；

判断设定时间是否到，若是则输出排空控制信号，否则继续对实时检测到的微孔电压进行判断。